为什么IC出厂前需要做加速老化测试（HAST测试）

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浏览：- 发布日期：2022-04-16 15:55:29【大中小】

随着芯片进入汽车，云计算和工业物联网的市场，IC的可靠性也成为开发人员关注的点，事实也证明，随着时间推移，芯片想要达到目标的功能也会变得越来越难实现。

IC芯片老化测试

在过去，那些专为手机和电脑设计的芯片可以在高性能下正常使用2年到四年，两年到四年后，芯片功能便开始下降。

但是随着芯片投入到新的市场和过去不太成熟的电子产品市场，这将不再是个简单的问题。

每个终端市场都具有独特的需求，对于IC的使用方法和条件也不相同。而芯片的使用方法和条件对老化安全等问题，产生更大影响。影响芯片的质量因素相比之前更多。在PCB上当一个已知较好的芯片和其他芯片一同封装，性能的表现或许也会有所不同。

芯片由始至终都在运行，IC内部的模块也在一直加热，这就导致了老化加速，或许这会带来各种未知的问题。

所以芯片设计公司都会在芯片出厂前进行芯片加速老化测试（HAST）从而筛选测试更好的良片投放市场。

鸿怡电子芯片HAST老化测试座的特点

1、采用开模Socket+探针的结构，精度高，测试稳定，同时

大大降低设计、加工成本，降低了使用费用

2、根据实际测试情况，选用不同探针，可以对IC进行有锡球

无锡球不同测试

3、外带散热片解决高功率元器件散热问题

4、安装方便，无需焊接，有Open-top/翻盖结构，适合手动/自动操作

5、交期快，最快1天交货，提高使用效率

HAST加速老化测试座

规格：

1、材料：PES/LCP/PPS

2、适用IC尺寸：≤ 36x36mm

3、适用间距：≥ 0.35mm

4、结构：Open-top/翻盖

5、接触方式：探针

6、工作温度：-55°C～+200°C

关于我们

深圳市鸿怡电子有限公司成立于2000年，是一家集研发、生产、销售于一体的技术密集型国高新企业，公司专业研发各类应用于芯片/晶圆功能验证的测试座/老化座/存储芯片自动化测试/老化设备以及FPC/BTB检测的微针模组，立志成为国内半导体和连接器测试细分领域的第一品牌!!

公司坚持“技术是根，创新是魂，人才是本”的原则逐步发展，全职员工中,专业技术人员占40%，直接从事研制、开发的技术人员占20%，其中多人是具有高学历、经验丰富的高级工程师，有较强的新品开发能力，获得多项国家发明专利和实用新型专利。