有开模定制和机加工定制二种。针对非标类及特殊要求的测试座socket/测试夹具治具，可按需一件起定制。

更多产品需求，详询请点击：我厂支持非标来图一件定制，提供完善的整套IC测试解决方案，并可提供类似案例参考，详询请联系客服鸿怡电子生产定制的BGA1275（下568PIN）-0.5mm-20.5×18.5mm合金旋钮探针光电模块测试座socket,简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家

产品介绍：
产品名称:BGA1275（下568PIN）-0.5mm-20.5×18.5mm合金旋钮探针光电模块测试座
使用用途：对BGA1275pin芯片进行模拟电路测试、性能测试用，支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试
性能参数：频率：500Mhz,电流：满足单pin小于1A. 测试温度：-45°~+125°

产品特点：
测试座（夹具）特点：
①测试座设计成旋钮翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试 更稳定，频率更高。
④测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。
⑤测试座使用寿命更高，可长达8-15W次。