3225晶振测试老化座-四pin|晶振测试座

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3225晶振测试老化座-四pin

Open-top结构采用双触点技术，接触更稳定
测试座外壳采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长
弹片采用进口铍铜材料，阻抗小、弹性好
镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度

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产品详情产品参数产品型号图纸常见问题公司资质

产品特点：

1、pen-top结构采用双触点技术，接触更稳定；

2、座子外壳采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长；
3、弹片采用进口铍铜材料，阻抗小、弹性好；
4、镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度；

材料性能：

1、Socket 本体: PEI
2、弹片材料：铍铜
3、弹片镀层：镍金
4、操作压力：0.5KG min，Pin越多压力越大
5、接触阻抗：50mΩ max.
6、耐压性：700V AC for 1 minute
7、绝缘电阻：1,000MΩ 500V DC
8、最大电流：2A
9、使用温度：-55℃~+175 ℃
10、使用寿命：
Open-top结构：15000 次（机械测试）
翻盖结构：200000 次（机械测试）