您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
鸿怡制造,测试稳定,脚位精准
当前位置:首页 » 鸿怡电子产品中心 » SSD固态硬盘测试方案 » BGA152/132翻盖探针老化座

BGA152/132翻盖探针老化座详细信息/Detailed Information

BGA152/132翻盖探针老化座

一、产品用途:BGA152/132探针测试座,对BGA152/BGA132的芯片进行测试
二、适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
三、BGA152/132翻盖探针老化座:BGA152-1.0
四、有球无球兼容测试,测试稳定
订购热线:13631538587
立即咨询

BGA152翻盖弹针老化座

产品简介

一、产品用途:BGA152/132探针测试座,对BGA152/BGA132的芯片进行测试

二、适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm

三、BGA152/132翻盖探针老化座:BGA152-1.0

四、有球无球兼容测试,测试稳定

五、特点:探针采用进口的,电流能过3A、寿命达15万次以上、测试传输速度快。翻盖换取芯片方便,操作简单

 

采购:BGA152/132翻盖探针老化座

  • *联系人:
  • *手机:
  • 公司名称:
  • 邮箱:
  • 您是从哪里找到我们的:
  • *采购意向:
  • *验证码:验证码

跟此产品相关的产品 / Related Products

鸿怡产品中心Products

SSD固态硬盘测试方案

U盘Flash测试座

晶振测试座

DDR测试夹具

EMMC/EMCP数据恢复

精密定制IC测试座

老化测试座

烧录编程座

端子板(Adapter)

IC测试治具

FPC-connector夹子

芯片/老化开短路解决方案

BGA返修

ATE测试座(自动机台适用)

测试探针

大电流弹片微针模组

电阻容老化测试座

3C接口转接头

蝶形/金属管壳/陶瓷封装

IGBT和新能源封装测试座

半导体探针卡/垂直探针卡

联系鸿怡电子

咨询热线13632719880
  • 座机:0755-83587595
  • 邮箱:liu@hydz999.com
  • 传真:0755-23287415
  • 地址:深圳市宝安区西乡大道288号宝源华丰总部经济大厦A座1108室