您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
鸿怡测试座,终身技术支持保修
当前位置:首页 » 鸿怡电子产品中心 » 精密定制IC测试座 » BGA ic测试座 » 定制BGA1156-1.0 35x35合金旋钮翻盖探针测试座

定制BGA1156-1.0 35x35合金旋钮翻盖探针测试座详细信息/Detailed Information

定制BGA1156-1.0 35x35合金旋钮翻盖探针测试座

BGA测试夹具是一种用于帮助检测集成电路芯片(BGA芯片)的性能和质量的工具。它可以将BGA芯片固定在测试板上,以确保芯片与测试器件之间的正确接触,从而进行可靠的功能和性能测试。由于BGA芯片和测试器件之间的连接非常微小和复杂,因此使用BGA测试夹具可以提高测试的准确性和效率,避免了手动操作可能引发的错误和损坏。BGA测试夹具通常由硬质塑料或金属制成,并包含特殊的夹具和探针,以适配不同型号和规格的BGA芯片。
订购热线:13631538587
立即咨询

BGA测试夹具是一种用于帮助检测集成电路芯片(BGA芯片)的性能和质量的工具。它可以将BGA芯片固定在测试板上,以确保芯片与测试器件之间的正确接触,从而进行可靠的功能和性能测试。由于BGA芯片和测试器件之间的连接非常微小和复杂,因此使用BGA测试夹具可以提高测试的准确性和效率,避免了手动操作可能引发的错误和损坏。BGA测试夹具通常由硬质塑料或金属制成,并包含特殊的夹具和探针,以适配不同型号和规格的BGA芯片。


性能参数:
工作频率:1.2GHZ;
工作温度:-55℃~175℃;
单PIN电流:1A;
功率:5W;
接触阻抗:≤100mΩ
射频信号:无

BGA1156老化座

BGA1156测试夹具

BGA1156测试治具

BGA1156测试socket

BGA1156测试座

采购:定制BGA1156-1.0 35x35合金旋钮翻盖探针测试座

  • *联系人:
  • *手机:
  • 公司名称:
  • 邮箱:
  • 您是从哪里找到我们的:
  • *采购意向:
  • *验证码:验证码

跟此产品相关的产品 / Related Products

鸿怡产品中心Products

SSD固态硬盘测试方案

U盘Flash测试座

晶振测试座

DDR测试夹具

EMMC/EMCP数据恢复

精密定制IC测试座

老化测试座

烧录编程座

端子板(Adapter)

IC测试治具

FPC-connector夹子

芯片/老化开短路解决方案

BGA返修

ATE测试座(自动机台适用)

测试探针

大电流弹片微针模组

电阻容老化测试座

3C接口转接头

蝶形/金属管壳/陶瓷封装

IGBT和新能源封装测试座

半导体探针卡/垂直探针卡

联系鸿怡电子

咨询热线13632719880
  • 座机:0755-83587595
  • 邮箱:liu@hydz999.com
  • 传真:0755-23287415
  • 地址:深圳市宝安区西乡大道288号宝源华丰总部经济大厦A座1108室