定制JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座

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定制JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座

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定制JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座

JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：SOP/JFP/OTS
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：1.9mm
适配芯片尺寸：10.5mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适配芯片封装类型：SOP/JFP/OTS

适用芯片测试环境：老化、测试、烧录，适用芯片HTOL测试、HAST测试

芯片HTOL实验环境温度：125°，

芯片测试电流：100mA

老化座结构：翻盖式

IC测试座

芯片测试座

SOP测试座

JFP测试座

JFP测试socket

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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