LCC48pin-0.8mm-11x11x1.82mm合金翻盖探针测试座

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定制LCC48pin-0.8mm-11x11x1.82mm合金翻盖探针测试座

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定制LCC48pin-0.8mm-11x11x1.82mm合金翻盖探针测试座

LCC48pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：11*11mm
芯片厚度：1.82mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的LCC48pin-0.8mm-11x11x1.82mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用LCC48pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

LCC48pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：10Mhz

芯片测试电流：40mA

芯片测试温度范围：-45°~+80°，持续时长：72小时

芯片旋转测试：不超过600°/s

芯片振动测试：不超过30g

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

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芯片封装形式：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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