LCC4(下7PIN）-0.8（2x1.45mm)合金翻盖探针测试座

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定制LCC4(下7PIN）-0.8mm（2x1.45mm)合金翻盖探针测试座

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定制LCC4(下7PIN）-0.8mm（2x1.45mm)合金翻盖探针测试座

LCC4pin（实际下针7pin）芯片测试座规格参数信息：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：4pin（实际下针7pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：2*1.45,mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的LCC4(下7PIN）-0.8mm-2x1.45mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用LCC4pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

LCC4pin芯片测试座产品简介：

芯片测试电流：1A

芯片测试频率：300mA

芯片测试温度：-45°~+125°

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

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芯片封装形式：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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芯片引脚：30pin
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测试座结构：翻盖式
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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