LCC84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座

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定制LCC84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座

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定制LCC84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座

LCC84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：29.21*29.21mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的LCC84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用芯片测试环境：老化、测试、烧录

LCC84pin芯片测试座产品简介：

芯片测试最高速率：3.125Gbps

芯片测试频率：1.6Ghz

芯片测试电流：1A

芯片测试温度：常温测试

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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