定制LCC8pin-1.27mm-5x5mm一拖九工位合金翻盖测试座

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定制LCC8pin-1.27mm-5x5mm一拖九工位合金翻盖测试座

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定制LCC8pin-1.27mm-5x5mm一拖九工位合金翻盖测试座

LCC8pin芯片一拖多工位测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5*5mm
一拖九工位测试座

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产品详情

鸿怡电子生产定制的LCC8pin-1.27mm-5x5mm一拖九工位合金翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

LCC8pin适用芯片测试环境：老化、测试、烧录

芯片测试频率：1Ghz

芯片测试电流：50mA

芯片测试温度：常温测试

一拖多工位测试座

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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