定制LGA144pin合金旋钮探针老化测试座

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定制LGA144pin-1.27mm-（15x15mm）合金旋钮探针老化测试座

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定制LGA144pin-1.27mm-（15x15mm）合金旋钮探针老化测试座

LGA芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片尺寸：15×15mm
厚度：2.82mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的定制LGA144pin-1.27mm-（15x15mm）合金旋钮探针老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

该款芯片探针测试座适用于LGA144pin芯片测试、老化、烧录使用

产品简介：

芯片老化测试温度：-50°~125°

芯片测试电流：1A

芯片测试频率：1Ghz

老化测试座结构：旋钮翻盖式

老化测试座材料：合金

IC测试座

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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