定制模块110pin-1.0mm-39X34mm合金翻盖弹针测试座

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定制模块110pin-1.0mm-39X34mm合金翻盖弹针测试座

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定制模块110pin-1.0mm-39X34mm合金翻盖弹针测试座

模块110pin弹片测试座规格参数：
模块引脚：110pin
模块引脚间距：1.0mm
模块尺寸：39×34mm

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产品详情

鸿怡电子生产定制的模块110pin-1.0mm-39X34mm合金翻盖弹针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

模块测试座、模块烧录座、模块老化座

产品简介以及测试要求：

模块测试电流：250mA

模块测试频率：1Ghz

无其他测试要求

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

针结构：弹片针

模块测试座

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IC测试座

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模块测试夹具

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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