定制QFP176-0.4 芯片测试座翻盖双扣旋钮测试治具|IC测试治具

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定制QFP176-0.4 芯片测试座翻盖双扣旋钮测试治具

工厂直销，QFP176-0.4合金翻盖测试座；
可根据客户需求定制不同封装、间距、尺寸的IC测试座;
欢迎来图，来电咨询洽谈；

订购热线：13631538587

产品详情

产品特点及性能参数：
※ 采用手动翻盖式结构，操作方便；
※ 上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
※ 探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
※ 高精度的定位槽，保IC定位精确；
※ 采用浮板结构有球无球都能测,
※ 探针材料，
※ 探针可更换，维修方便，成本低。
※ 绝缘材料制作；
※ 最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到中心的距离）；
※ 交货快：最快3天内交货。

产品服务：
※ 三个月免费保修（人为损坏除外）。
※ 保修期外，免费维修，如果需换件，只收材料成本费。

※ 可以免费提供相关的技术支持。

QFP176测试座2