定制SOP24pin合金旋钮探针老化测试座

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定制SOP24pin-1.52pin-（21x11.7mm)合金旋钮探针老化测试座

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定制SOP24pin-1.52pin-（21x11.7mm)合金旋钮探针老化测试座

SOP芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：1.52mm
芯片尺寸：21×11.7mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的SOP24pin-1.52pin-（21x11.7mm)合金旋钮探针老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于SOP24pin封装芯片测试、烧录、老化用

产品简介：

芯片测试温度：130°，持续时长：120小时

芯片测试电流：0.55A

芯片测试频率：1Ghz

芯片测试座结构：双扣式（手自一体）

芯片测试座材料：合金

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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