定制SOT89-5L合金翻盖探针测试座

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定制SOT89-5L-1.5mm（2.5x4.5mm）合金翻盖探针测试座

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定制SOT89-5L-1.5mm（2.5x4.5mm）合金翻盖探针测试座

SOT89封装芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：SOT89
芯片引脚：5pin
芯片引脚间距：1.5mm
芯片尺寸：2.5×4.5mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的定制SOT89-5L-1.5mm（2.5x4.5mm）合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

产品简介

适用于SOT89芯片测试、老化，采用开尔文方式

芯片测试电流：1A

芯片测试温度：-25~+125度

无其他测试要求

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

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SOT测试socket

SOT89测试座

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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