SSD固态硬盘测试方案

• SMI2246EN测试方案
• SMI2256K测试方案
• SSD测试夹具
• TSOP48 IC测试座
• BGA152 IC测试座

U盘Flash测试座

• BGA测试座
• TSOP测试座
• LGA测试座
• TF卡测试座
• SD卡测试座
• EMMC/EMCP黄点测试座
• BGA24机顶盒测试座

晶振测试座

• 晶振老化座

DDR测试夹具

• DDR内存颗粒解决方案

EMMC/EMCP数据恢复

• 安卓手机字库测试座
• 手机数据恢复测试座
• eMMC/eMCP Flash测试座
• eMMC/eMCP功能分析测试
• UFS芯片测试座

精密定制IC测试座

• BGA ic测试座
• QFN ic测试座
• QFP ic测试座
• 模块测试座
• WLCSP芯片测试座

老化测试座

• BGA老化座
• LGA老化座
• eMMC/eMCP老化座
• TSOP老化座
• SOP老化座
• QFN老化座
• QFP老化座
• SOT老化座
• 其它老化座
• TO老化座

烧录编程座

• DFN/QFN8测试座
• BGA测试座
• LGA测试座
• TSOP烧录座
• SOP烧录座
• QFN烧录座
• QFP烧录座
• SOT编程座
• 其它编程座

端子板（Adapter)

• 订做老化板
• TSOP端子板
• SOP端子板
• QFP老化板
• QFN老化板

IC测试治具

• 各类主板IC测试治具
• SENSOR测试治具
• IC信号分板/测试夹具
• 手机类测试治具
• 平板电脑类测试治具
• 苹果手机夹具/测试座
• 其它IC测试治具

FPC-connector夹子

• 触摸屏
• 显示屏
• 摄像模组
• FPC功能模组
• 针模连接器

芯片/老化开短路解决方案

BGA返修

• BGA植球
• BGA植球工具
• 代理各种BGA返修用品

ATE测试座（自动机台适用）

测试探针

大电流弹片微针模组

电阻容老化测试座

3C接口转接头

• USB 测试转接头

蝶形/金属管壳/陶瓷封装

IGBT和新能源封装测试座

半导体探针卡/垂直探针卡