LCC52(实际下针32PIN)-1.2(22×19mm)翻盖探针式测试座

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定制PLCC52\LCC52翻盖探针测试座老化夹具治具测试socket

测试座（夹具）特点：
①测试座设计翻盖式结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定，盖子开窗满足测试实时观察现象需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试夹具采用多工位设计方式，大批量测试老化大大压缩占地空间比。
④测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
⑤测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

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产品详情

测试座（夹具）特点：
①测试座设计翻盖式结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定，盖子开窗满足测试实时观察现象需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试夹具采用多工位设计方式，大批量测试老化大大压缩占地空间比。
④测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
⑤测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

LCC芯片测试座

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芯片引脚间距：0.8mm
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测试座材料：合金、PEEK