※ 采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;
※ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球;
※ 高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试效率高;
※ 测试频率可达9.3GHz;
※ 用途:集成电路应用功能验证测试;
※ 可根据用户要求定做各种阵列的socket
※ 有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便;
※ 可根据用户要求定做各种阵列的socket
适用于IC设计公司作芯片的样片功能验证使用
芯片封装参数:QFN48 间距0.5mm 尺寸7*7mm
根据客户要求,达到3GHZ频率,电流200mA
采用进口探针,测试寿命可达8-10W次