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QFN76-0.4(9*9)翻盖弹片芯片老化测试座详细信息/Detailed Information

QFN76-0.4(9*9)翻盖弹片芯片老化测试座

QFN76 老化座 0.4间距 翻盖弹片测试座 适配器 烧写座
工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 翻盖弹片老化座,QFN76-0.4 HMILU自有品牌,大量现货当天发! 【0.4间距/不带板】
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QFN76-0.4(9*9)翻盖弹片测试座

 

产品简介

 

产品用途 编程座、测试座,对QFN76的IC芯片进行烧写、测试
适用封装 QFN76引脚间距0.4mm
测试座 QFN76-0.4
特点 底部引出引脚为不规则排列

      实物


QFN烧写座

QFN芯片老化座

QFN芯片编程座

QFN76-0.4翻盖老化座5

采购:QFN76-0.4(9*9)翻盖弹片芯片老化测试座

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