进口QFP32pin翻盖老化测试座

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QFP32pin-0.8mm-7*7mm翻盖老化测试座

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QFP32pin-0.8mm-7*7mm翻盖老化测试座

QFP32pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片本体尺寸：7*7mm
芯片含引脚尺寸：9*9mm

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产品详情

鸿怡电子进口的QFP32pin-0.8mm-7*7mm翻盖老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

芯片老化测试座型号：进口QFP32pin-0.8mm-7*7mm，IC51-0324-1498

测试座品牌：Yamaichi

QFP32转DIP32编程座、烧录座、测试座

测试座结构：翻盖式

测试座材料：塑胶

IC老炼座

芯片老化座

QFP芯片老化座

QFP芯片老化测试socket

鸿怡电子 IC测试座芯片测试座 IC测试夹具治具 QFP芯片测试座 QFP芯片老化座 QFP芯片烧录座

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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