QFP64pin-0.5mm-10×10mm下压弹片老化测试座

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QFP64pin-0.5mm-10×10mm下压弹片老化测试座

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QFP64pin-0.5mm-10×10mm下压弹片老化测试座

QFP64pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片本体尺寸：10*10mm
含引脚尺寸：12*12mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产的QFP64pin-0.5mm-10×10mm下压弹片老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

QFP64-0.5下压弹片老化座产品简介
产品用途：编程座、测试座、老化座，对QFP64的芯片进行老化、烧录、测试
适用封装：QFP64、LQFP64、TQFP64、OTQ64,

对应国外产品型号：OTQ-64-0.5-01
QFP64老化座图纸

芯片老化座

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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