手机芯片UFS2.0 2.1测试座合金探针老化座翻盖式插座 UFS编程座|老化测试座

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手机芯片UFS2.0 2.1测试座合金探针老化座翻盖式插座 UFS编程座

可根据客户需求定制各类UFS测试治具。
在客户现有的手机主板或是其它PCBA板上，直接将socket精准的固定在产品之上，无需layout,大大降低测试成本，广泛适用于ODM/半导体FAE部门的IC验证。

订购热线：13631538587

产品详情

BGA测试座特点：
* 100％全新，更高品质、更耐用
*出货前经过测试
* 使用方便
*如果您需要，可提供技术支持和数据表。
*我们是socket生产制造商，欢迎感兴趣的朋友成为我们的分销代理商
*专业生产各种IC芯片测试座和IC测试治具。
更多数量更低的价格！
*更多类型的测试座和老化座适用于eMMC，eMCP，SOP，SSOP，TSSOP，QFP，QFN，BGA，SOT，MSOP，DFN和定制设计，适用于定制插座和更多产品细节，请随时与我们联系。

UFS2.0 翻盖旋钮探针测试座

产品特性：

类型：测试及老化(不带PCB)

封装：UFS2.0/2.1

PIN数：153/169针

间距:：0.5mm

适用于IC尺:：11.5*13mm

可测试的UFS芯片型号：KLUAG2G1BD-E0B2 / KLUBG4G1BD-E0B1 / KLUCG8G1BD-E0B1

特别说明：客户也可以提供手机给我们定制手机测试架，如有需要，请联系客服咨询，谢谢！

产品图片：

UFS测试座3_副本