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SM2256K主控转BGA152翻盖双面弹测试座详细信息/Detailed Information

SM2256K主控转BGA152翻盖双面弹测试座

BGA152测试座 翻盖双面弹一拖二 2256K主控 转SSD接口测试座 厂家
此款免焊接,Socket直接通过定位螺丝锁紧在测试板上 SM2256K主控,批量有优惠!
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BGA152翻盖双面弹一拖二测试座

(此款免焊接,Socket直接通过定位螺丝锁紧在测试板上)

      BGA152翻盖弹片一拖二测试座是我公司为了FLASH行 业研发的低成本解决方案,翻盖操作取换芯片简单,大批量测试时减少对测试员工手的伤害!成为最高性价比的测试座,该产品采用弓形弹片结构,这种结构加上进 口铍 铜镀金有良好的伸缩性能,特殊的月牙形针头,更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点:我们的可以有球无球残球均可测试!而其他品牌只能测试新的有球 的芯片。

 产品简介

产品用途:编程座、测试座,对BGA152的IC芯片进行测试、读取数据

适用封装:BGA152、BGA132 引脚间距1.0mm

测试座:BGA152/132-1.0

特别说明:暂时只能持TLC等级的FLASH,支持8CE以下的芯片

采购:SM2256K主控转BGA152翻盖双面弹测试座

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