SOP16pin-JFP16pin翻盖老化测试座

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SOP16pin-JFP16pin翻盖老化测试座

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SOP16pin-JFP16pin翻盖老化测试座

SOP16pin芯片翻盖老化座规格参数
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片本体尺寸：4.5mm
芯片含引脚尺寸：7.8mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产的SOP16pin-JFP16pin翻盖老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用SOP16pin芯片测试、老化、烧录用

SOP16pin芯片高温老化测试

芯片老化测试工作温度：-60°~+155°

老化测试寿命：1.5万次

老化座材料：PEI、PPS

采用弹片针材料：铍铜

IC老化座

OTS芯片老化座

芯片老化测试座

SOP芯片老炼座

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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