SOP34pin-0.65mm开尔文测试老化座

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SOP34pin-0.65mm开尔文测试老化座

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SOP34pin-0.65mm开尔文测试老化座

SOP芯片开尔文老化座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：34pin
芯片引脚间距：0.65mm

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产品详情

鸿怡电子生产的SOP34pin-0.65mm开尔文测试老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

该款芯片老化座适用于SOP34pin芯片测试、烧录、老化用，适用于ATE自动机台高速测试

产品测试简介：

用于数字芯片的四线法测试，开尔文测试

长度和宽度没有限制，可以适配0.65mm间距的2/4/6/8/10/12/14/16/18/20/24/28pin引脚的芯片测试，

该款测试座单个pin脚支持过流1A，

适用工作环境：-55°~150°

接触阻抗小于50毫欧

适用寿命：15000次

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SOP芯片老化座

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接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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