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: SOP16pin-1.27mm-10.3x10.315mm合金翻盖开尔文测试座

SOP16pin芯片开尔文测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：SOP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：1.27mm
本体尺寸：7.5mm
含引脚尺寸：10.315mm
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: QFN20pin-0.65mm-5X5mm开尔文合金翻盖测试座

QFN20pin芯片开尔文测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：5*5mm
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: SOP34pin-0.65mm开尔文测试老化座

SOP芯片开尔文老化座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：34pin
芯片引脚间距：0.65mm
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: 定制SOT89-5-1.5合金翻盖开尔文测试座

开尔文测试夹具有什么优点？
与传统的两线测试夹具相比，开尔文测试夹具具有以下优点：
- 精准度高：可以消除测试夹具本身的电阻和电压，避免这些因素对测试结果的影响。
- 测量范围广：可以测量低电...
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[新闻中心]鸿怡电子工程师为您讲解电子线路信号测试之开尔文测试及开尔文测试座特点2023年11月22日 15:19: 开尔文测试法：电子线路中的信号测量利器开尔文测试法，IC测试座工程师介绍：也被称为四线法或开尔文测阻法，是一种用于电子线路中信号测量的重要方法。它通过使用四根导线分别传递电流和测量电压，有效地消除了导线电阻对测量结果的干扰。开尔文测试法的原理非常简单，即通过两对导线来完成电流和电压的传输和测量。其中一对导线用于传输电流，被称为电流引线，另一对导线用于测量电压，被称为电压引线。这四根导线互相独立，并且电流引线和电压引线不交叉。在开尔文测试法中，电流引线的两个端点通过电流; 阅读（6）标签：产品|新闻|定制测试治具|定制测试座|定制IC测试架

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