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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 晶振频率测试老化座

Open-top结构采用双触点技术，接触更稳定
?座子外壳采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长
?弹片采用进口铍铜材料，阻抗小、弹性好
?镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度
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[鸿怡动态]鸿怡电子ANDK品牌IC测试座获取美国商标2018年08月23日 09:38: 们的所有IC测试座（包括BGA测试座座，QFN测试座座，DDR测试座，FPC连接器针模测试座，QFP烧录座，SOP / SOIC老化/烧录座，晶体振荡器测试座，TSOP老化座，SSD测试解决方案等）在美国合法销售，我们的IC测试座及其品牌受美国法律保护。; 阅读（572）标签：

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