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贴片晶振2016-4PIN晶振双面弹测试座
产品数据: 1、材料:PEI 2、适用IC尺寸:1.5x1.5~12x12mm 3、最高频率:>9.3GHZ 4、结构:Open-top/翻盖 5、接触方式:探针 6、工作温度:-55°C~175°C 探针接触细节 产品特点: 1、采用开模Socket+探针...
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晶振频率测试老化座
Open-top结构采用双触点技术,接触更稳定
?座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长
?弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好
?镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度
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[鸿怡动态]鸿怡电子端午节放假通知
2017年05月25日 11:16
尊敬的各位客户: 根据国务院办公厅2017年“端午节”放假通知精神,我公司放假日期安排如下:5月28日-5月30日,放假三天。5月27日(星期六)正常上班。 请各客户做好备货准备,放假期间如有业务需求,也可直接致电我公司业务人员! 刘小姐:13631538587 谢谢! 顺祝,节日快乐!! 深圳鸿怡电子有限公司 专注17年生产研发各类封装、间距、尺寸之IC测试座、手机测试治具、晶振测试座产品。欢迎有需要的客户咨询洽谈!!
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[鸿怡动态]鸿怡电子新产品-
晶振频率测试座
系列
2017年04月21日 14:03
目前,鸿怡电子经过多年的努力与丰富的IC测试座生产与研发经验,在公司技术人员的不懈努力下。产品种类也在日渐扩大,如”SOP系列测试座、QFN测试座、QFP测试座、BGA测试座、EMMC测试座“等等,产品种类涵盖各种封装尺寸芯片。 与此同时,我公司为了解决晶振行业对于晶振生产、测试仪器研发等部门,常常需要了解所用晶体振荡器的谐振频率和频率准确度等性能,采用传统的计数器或示波器等测试设备常面临测试效率低、测试不方便的问题。我公司研制的CXP系列晶振测试插座
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