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: QFN12-0.4(5*5)下压弹片IC测试老化座

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: DFN8-1.27(5*5)翻盖探针芯片测试座

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翻盖探针测试座，体积小，WSON\QFN\DFN8（5*5）-1.27ANDK自有品牌，最快一天交...
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: QFN16-0.4（3*3）下压弹片IC测试老化座

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: QFN84-0.4(10*10)翻盖弹片芯片老化测试座

QFN84老化座 0.4间距翻盖弹片测试座适配器编程座厂家
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！翻盖弹片老化座，QFN84-0.4大量现货当天发！【0.4间距/不带板】
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: QFN32下压弹片转DIP152芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFN32引脚间距0.5mm
测试座：QFN32下压弹片转152烧录座
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: QFN16-0.5翻盖弹片芯片老化座

产品用途:编程座、测试座，对QFN16的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN16 引脚间距0.5mm 测试座:QFN16-0.5 特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFP48翻盖弹片双层板IC烧录座编程测试座

产品用途：编程座、测试座，对QFP48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFP48、PQFP48、TQFP48，引脚间距0.5mm
测试座： QFT-48-0.5-06
特点：四周按芯片顺序引出所有引脚
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