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搜索：芯片可靠性测试：1分钟了解芯片htrb测试—鸿怡电子芯片可靠性测试解决方案专家
- [新闻中心]芯片可靠性测试：1分钟了解芯片HTRB测试，鸿怡电子芯片可靠性测试解决方案专家2023年10月20日 15:37
- HTRB (High Temperature Reverse Bias) 是一种用于测试芯片可靠性的测试方法。它主要应用于硅谷电流控制二极管 (Silicon Controlled Rectifier, SCR)、二极管、晶体管等器件的可靠性评估。 在 HTRB 测试中，芯片被加入高温环境并施加反向偏置电压。这个测试方法的目的是模拟芯片在高温和反向电压条件下的工作情况，以评估其在这种应力环境下的可靠性。 HTRB 测试可以帮助检测和评估芯片在高温和反向电压条件下的性能和可靠性
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标签：新闻|产品|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架
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