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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 定制LGA124pin-0.5mm-（8.2x10.5mm)合金旋钮探针老化座

LGA124pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：124pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：8.2*10.5mm
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: 定制QFN62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座

QFN62pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：62pin
芯片引脚间距：支持0.4mm-0.425mm-0.45mm
芯片尺寸：12×12mm
芯片厚度：0.75mm
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: BGA63弹片老化座 bga63封装IC 测试座数据恢复工具 BGA63测试座

本款下压老化座适配BGA封装63PIN的芯片
适配尺寸10.5mm*13.5mm\9mm*11mm 间距0.8mm
深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类BG...
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: BGA64-1.0翻盖弹片IC老化测试座

深圳市鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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: QFN52-0.4(7*7)翻盖弹片IC老化测试座

QFN52-0.4 老化座芯片测试座编程座 0.4间距工厂现货
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！翻盖弹片老化座，QFN52-0.4 老化座大量现货当天发！【0.4间距/不带板】
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: QFN36-0.5翻盖弹片IC老化测试座

产品用途：编程座、测试座，对QFN36的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFN36引脚间距0.5mm
测试座： QFN36-0.5
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFN36-0.5翻盖弹片IC老化测试座

产品用途：编程座、测试座，对QFN36的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFN36引脚间距0.5mm
测试座： QFN36-0.5
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFN24下压弹片IC老化测试座

产品用途:编程座、测试座，对QFN24的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN24引脚间距0.4mm
测试座:QFN24-0.4
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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[新闻中心]鸿怡电子贴片整流二极管：SMA、SMB、SMC封装老化测试与IC老化座socket2024年11月14日 15:02: 贴片整流二极管是现代电子设备中不可或缺的元件之一，其主要作用是将交流电转换为直流电，广泛应用于电源、电池充电、逆变器以及其他需要整流的场合。本文将深入探讨贴片整流二极管的工作原理、不同封装形式的特点与区别，以及老化测试的条件与关键设备。贴片整流二极管的工作原理贴片整流二极管的基本原理与普通二极管相似，鸿怡电子IC老化测试座socket工程师介绍：它通过PN结的单向导电特性实现电流的整流。当施加正向电压时，二极管导通，允许电流通过；而当施加反向电压时，PN结的电阻增加，阻; 阅读（8）标签：产品|新闻|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架

[新闻中心]稳压管与可控硅：工作寿命老化测试解决方案与IC老炼夹具的作用-鸿怡HMILU案例2024年10月30日 14:32: 稳压管和可控硅扮演着至关重要的角色。保证这些元器件的可靠性以及工作寿命是每个生产者和用户都关心的问题。本文将详细探讨稳压管与可控硅的工作寿命老化测试，该测试适用于哪些类型的IC，测试条件的特点以及注意事项，最后详解IC老化测试座的重要作用。稳压管与可控硅的基础功能稳压管稳压管，又称齐纳二极管，是一种用于稳定电压的半导体器件。其主要作用是通过逆向击穿来保持恒定电压，广泛应用于电压调节和电源保护等领域。根据不同的电压和功率需求，选择合适的稳压管显得尤为重要。可控硅可; 阅读（5）标签：产品|新闻|定制测试治具|定制测试座|定制IC测试架

[新闻中心]车规级功率单管+IGBT模块全自动老化测试+IC老化测试座：让车辆更加高效可靠2023年10月18日 18:20: 为了确保汽车的性能和稳定性，车规级功率单管和IGBT（绝缘栅双极型晶体管）模块的全自动老化测试变得尤为重要。车规级功率单管是一种用于控制电流的设备，可以帮助调节汽车的能效和动力输出。IGBT模块则是一种功率电子设备，可以实现高电压和高电流下的电力转换。这两种设备在汽车电子系统中发挥着关键的作用，因此它们的可靠性和效率对于车辆的运行非常重要。根据鸿怡电子IC测试座工程师介绍：全自动老化测试被广泛应用于汽车制造业。这项测试是通过模拟设备在长时间运行过程中遇到的各种极端环境和; 阅读（9）标签：新闻|产品|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架

[新闻中心]深圳鸿怡电子LCC24pin封装芯片翻盖老化座案例2023年02月06日 11:05: LCC测试座、LCC老化座规格：芯片封装类型：LCC 芯片引脚：24pin 芯片引脚间距：1.27mm 芯片尺寸：8.5×8.5mm IC老化测试座 LCC封装芯片老化测试要求：测试温度：+150，无低温要求测试时长：8000小时（持续温度150）测试操作力：30每P 测试频率：-1db 3G 测试电流：1A（@150）接触电阻：30毫欧 10mA 20mV 绝缘电阻：DC100V 1000兆欧已上老化座材料：PEI 老化座结构：翻盖式; 阅读（13）标签：

[鸿怡动态]电源IC老化座测试座的清洁和保养2019年03月12日 18:16: 深圳市鸿怡电子有限公司，主要生产销售各类芯片的老化座、测试座。如各类电源IC、射频IC测试座等。客户在进行芯片测试的时候，电源IC老化座测试座使用时间长了之后会有一些灰尘和污垢，从而影响客户的测试和老化。那么电源IC老化测试座的如何清理和保养？鸿怡电子的小编告诉您：1、首先，把电源IC老化测试座翻盖打开，接着倒放在超声波清洁器内。2、然后，在超声波清洁器内倒入适量的酒精，酒精的份量以把整个座头浸没为佳，并打开超声波清洁器开关，开始进行清洗工作，大概十分钟之后（如果老化测试座比; 阅读（89）标签：

[鸿怡动态]老化测试座在为移动电源进行测试时的步骤有哪些？2018年10月18日 18:15: IC老化测试座在为移动电源进行测试时的步骤有哪些？下面小编为您讲解： 1、过充保护：过充电检测电压、过充电检测延迟时间、过充电解除电压。2、过放保护：过放电检测电压、过放电检测延迟时间、过放电解除电压。3、过流保护：充电过电流保护电流、充电过流检测延迟时间、充电过流解除延迟时间、放电过电流保护电流、放电过流检测延迟时间、放电过流解除延迟时间。4、短路保护：保护条件、外部电路短路、检测延迟时间、保护解除延迟时间。 5、温度保护：温度保护条件。5、温度保护：保护解除条件。6、内阻; 阅读（78）标签：

[鸿怡动态]鸿怡电子IC老化测试座的特点？2018年09月19日 18:00: 鸿怡电子可提供各类IC的老化测试socket，可用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业，配老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选的连接之用。; 阅读（63）标签：

[行业资讯]IC老化测试座的清理和保养2018年08月16日 17:28: IC老化座测试座使用时间长了之后肯定会有一些灰尘和污垢，从而影响客户的测试和老化。那么我们应该如何进行清洁呢？; 阅读（128）标签：

[行业资讯]阐述芯片老化测试座在半导体市场的运用2018年03月27日 17:19: 老化测试座广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯以及集成电路生产企业，可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用。; 阅读（177）标签：

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