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LCC20pin-0.8mm-6.2x6.2mm合金翻盖探针芯片测试座
LCC20pin芯片测试座规格参数:
生产厂家品牌:鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:6.2*6.2mm
更多 +
LCC60pin-1.27mm-30X40mm合金翻盖模块测试座
LCC60pin模块测试座socket规格参数:
生产厂家品牌:鸿怡电子—HMILU
模块封装类型:LCC
模块引脚:60pin
模块引脚间距:1.27mm
适配模块尺寸:30*40mm
更多 +
[新闻中心]深圳鸿怡电子LCC24pin封装芯片翻盖老化座案例
2023年02月06日 11:05
LCC测试座、LCC老化座规格: 芯片封装类型:LCC 芯片引脚:24pin 芯片引脚间距:1.27mm 芯片尺寸:8.5×8.5mm IC老化测试座 LCC封装芯片老化测试要求: 测试温度:+150,无低温要求 测试时长:8000小时(持续温度150) 测试操作力:30每P 测试频率:-1db 3G 测试电流:1A(@150) 接触电阻:30毫欧 10mA 20mV 绝缘电阻:DC100V 1000兆欧已上 老化座材料:PEI 老化座结构:翻盖式
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