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: DFN8(6*8)-1.27翻盖探针芯片测试座

DFN8(6*8)-1.27翻盖探针测试座 QFN8-1.27-CPO1PNL烧录座厂家批发
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！翻盖探针测试座，DFN8-1.27HMILU自有品牌，大量现货当天发！【1.27间距/带板】
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: QFN44-0.4（6*6）翻盖弹片双层板IC烧录座

QFN44-0.4 双层转板烧录座 0.4mm间距翻盖测试座镀金弹片编程座
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！翻盖弹片烧录座，QFN44-0.4 HMILU自有品牌，大量现货当天发！【0.4间距/带板】
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: QFN64-0.5翻盖弹片IC测度老化座

产品用途: 编程座、测试座，对QFN64的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFN64引脚间距0.5mm
测试座: QFN64-0.5
特点: 底部引出引脚为不规则排列
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: QFN48-0.4翻盖弹片IC测试老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFN48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFN48-0.4
测试座：QFN48-0.4老化座
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: QFN40-0.4下压弹片IC测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对QFN40的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN40引脚间距0.4mm
测试座:QFN40-0.4
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN40-0.5翻盖弹片IC测试老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFN40的IC芯片进行烧写、测试适用封装： QFN40引脚间距0.5mm 测试座： QFN40-0.5 特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFN32翻盖弹片转DIP152芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFN32引脚间距0.5mm
测试座：QFN32翻盖弹片转152烧录座
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: QFN32-0.5翻盖弹片芯片测试座

产品用途：编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFN32引脚间距0.5mm
测试座： QFN32-0.5
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFN28翻盖弹片单层板IC测试座

产品用途:编程座、测试座，对QFN28的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN28
引脚间距:0.5mm
测试座:QFN28-0.5
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN24下压弹片IC老化测试座

产品用途:编程座、测试座，对QFN24的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN24引脚间距0.4mm
测试座:QFN24-0.4
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN12-0.5翻盖弹片IC烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFN的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN12 引脚间距0.5mm 测试座：QFN12-0.5 特点：采用U型顶针，接触更稳定
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