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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: BGA152/132翻盖探针老化座

一、产品用途:BGA152/132探针测试座，对BGA152/BGA132的芯片进行测试
二、适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
三、BGA152/132翻盖探针老化座:BGA152-1.0
四、有球无球兼容测试，测试稳定
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: 苹果LGA60翻盖探针带排线硬盘测试座

大小硬盘通用座,改硬盘SN好帮手
采用单排线设计，性能稳定,抗干扰性能好。
翻盖弹片式活动座，寿命高达十万次。
直接焊接在（iPhone4）4代主板上就可以使用。
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: BGA272翻盖探针安国主控U盘测试夹具

BGA272翻盖探针测试座安国主控U盘测试夹具Flash测试座接受定制
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: LGA60下压弹片芯片测试座

LGA60下压弹片测试座 lga60芯片烧录座
间距1.0mm 60pin
常见规格尺寸：14×18
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: eMMC153/169 U盘探针测试夹具

eMMC U盘探针测试夹具
eMMC153/169测试座
eMMC socket编程烧录座
探针材料，可更换维修，限位框可更换适用不同尺寸的IC
常见IC尺寸有：11.5*13,12*16,12*18,14*18
可定制BGA132/152/153...
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: LGA52-1.0下压弹片转DIP48芯片测试座

LGA52下压弹片转dip48测试座 LGA52烧录座转TSOP48编程座测试架
探针可更换可维修，寿命长，兼容12*17mm和14*18mm 两种尺寸
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: BGA100翻盖弹片转DIP48测试座 flash芯片测试座

深圳鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN/QFP、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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: LGA60翻盖探针转DIP48芯片测试编程座

工厂大量现货 LGA60翻盖探针转DIP48测试座 LGA60烧录座探针 LGA60编程座
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: BGA316翻盖探针U盘测试夹具

工厂直销欢迎批发质优价廉！翻盖探针测试座， BGA316翻盖探针测试夹具，大量现货当天发！【翻盖探针/转USB接口】
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