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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 定制QFN2-0.65-1.0×0.6定制合金翻盖测试座

工厂介绍鸿怡电子生产定制QFN2-0.65-1.0×0.6定制合金翻盖测试座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。
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$新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管测试座_PDFN芯片老化座$: 新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管测试座_PDFN芯片老化座

该QFN产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片高低温老化、性能测试使用
适用于PDFN、DFN、TO等封装大电流大功率芯片、MOS管
常见的芯片有电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯...
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: FPC软排线通用快速测试夹金手指在线免拆测试夹子转接夹

产品特点及性能参数：
产品通用程度高，可适用于同间距不同PIN数的PFC软排线
目前可应用的间距为：0.25/0.3/0.5/0.6/0.65/0.8/1.0/1.27MM等
测试...
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: 邮票孔模块测试治具模块测试架定制测试座集成模块测试治具

产品特点及性能参数：
采用手动翻盖式结构，操作方便；
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠； ...
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: TO封装元器件测试座 TO46-5PIN老化座耐高温 TO46-5PIN热电堆传感器老化座

产品名称：TO 系列老化座
型号：TO46-5-2.54
材质类别：
塑胶主体：进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实...
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: TO封装元器件测试座 TO56老化座耐高温 TO56光电堆传感器老化座

产品名称：TO 系列老化座
型号：TO56-5-2.2
材质类别：
塑胶主体：进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验...
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: TO封装元器件测试座 TO46老化座耐高温 TO46热电堆传感器老化座

产品名称：TO 系列老化座
型号：TO46-4-2.0
材质类别：
塑胶主体：进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验...
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: USB Type-C 24PIN 用于母头测试

1. USB公头使用优质工程塑料制成，可降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延...
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: IEEE1394 4PIN 用于母头测试

1. USB公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成，具有良好的导电...
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: Micro-USB 5 PIN 用于母头测试

1. USB公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成，具有良好的导电...
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: Micro-USB 5PIN 用于母头测试

1. USB公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成，具有良好的导电性，...
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: QFN测试烧录座 QFN自动设备用ATE测试座烧录座芯片转换座

测试座（夹具）特点：
①ATE自动化测试结构，适用于机械手放取芯片测试。
②测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳...
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: BGA152/132翻盖探针老化座

一、产品用途:BGA152/132探针测试座，对BGA152/BGA132的芯片进行测试
二、适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
三、BGA152/132翻盖探针老化座:BGA152-1.0
四、有球无球兼...
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: HYD1563300R-100A

产品名称：D1563300R-100A
额定电流：3.0A
阻抗：<100毫欧
带宽：2.76GHz
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: 测试探针HMILU-PH-5J

产品名称：HMILU-PH-5J
所属分类：PH系列探针
产品简介：PH系列探针、PH-5J、直上圆头探针、一体针、弹簧针、测试针、顶针
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: 开关探针HMILU-KG-250G

产品名称：HMILU-KG-250G
所属分类：开关针
产品优势：产品定位精度高、产品过载稳定、更多 +

: HMILU测试探针P50-A

产品名称：HMILU-P50-A、HMILU-PA50-A
所属分类：测试探针
产品简介：针的外径是0.68mm,总长度为16.5mm，测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试...
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: HMILU测试探针P50-A

产品名称：HMILU-P50-A、HMILU-PA50-A
所属分类：测试探针
产品简介：针的外径是0.68mm,总长度为16.5mm，测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试...
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: HMILU测试探针P50-F

产品名称：HMILU-P50-F、HMILU-PA50-F
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径W为0.68mm，顶针总长为16.55mm测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、...
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: HMILU测试探针P50-H

产品名称：HMILU-P50-H、HMILU-PA50-H
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径W为0.68mm，顶针总长为16.55mm测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、...
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