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HMILU夹片探针3.0
产品
名称:HMILU3.0夹片针
所属分类:夹片针
适用人群:主用到变压器 电感 接插件做测试用的
产品
介绍:夹片针的寿命是10万次,料采用的是铍铜,...
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HY026-JJ-5.7L双头探针
产品
型号:HY026-JJ-5.7L双头探针
所属分类:双头探针
产品
头型:探针外径为0.26mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头、爪头
产品
型号:HY026-JU-5.7L
所属分类:双头探针
产品
头型:探针外径为0.26mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头、爪头
产品...
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HY026-UU-5.7L双头探针
产品
型号:HY026-UU-5.7L
所属分类:双头探针
产品
头型:探针外径为0.26mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
产品
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测试探针HY-G1353-T
产品
名称:HY-G1353-T
所属分类:测试探针
产品
简介:HY-G1353-T-T探针、1.36mm测试针、总长36.5mm、弹簧针、测试针、顶针、探针
产品
型号:HY030-UJ-5.7L
所属分类:双头探针
产品
头型:探针外径为0.30mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头、圆头
产品...
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HY030-UU-5.7L 双头探针
产品
型号:HY030-UU-5.7L
所属分类:双头探针
产品
头型:探针外径为0.30mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
产品
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HY030-BU-5.7L 双头探针
产品
型号:HY030-BU-5.7L
所属分类:双头探针
产品
头型:探针外径为0.30mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为尖头、爪头
产品...
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高频探针001
产品
名称:高频探针001
所属分类:高频探针
产品
简介:高频针 高频探针、高频测试针 信号测试针 5针高频针 测试探针
产品
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定制三星UFS2.1芯片测试治具 三星手机测试架
可根据客户需求定制各类UFS测试治具.
在客户现有的手机主板或是其它PCBA板上,直接将socket精准的固定在
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之上
无需layout,大大降低测试成本,广泛适用于ODM/半导体FAE部门的I...
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产品
均有尺寸图纸,如有需要请联系客服提供!
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可根据客户需求定制各类UFS测试治具。
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之上,无需layout,大大降低测试成本,广泛适用于ODM/半导体FAE部门的IC验...
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QFN64-0.4 8*8mm 芯片测试座 翻盖老化座 烧录座
产品
用途:编程座、测试座
适用封装:QFN64 引脚间距0.4mm 芯片尺寸8×8mm
测试座:QFN64-0.4
特点:采用U型顶针,接触更稳定
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SMT贴片晶振7050-4pin翻盖探针测试座
规格尺寸
一、型号: 7050(7.0*5.0)-4PIN
二、脚位:4pin
三、芯片尺寸:7.0*5.0mm
贴片晶振7050 7.0*5.0mm 4pin晶振双面弹老化座
适用于有源晶振编程、烧录、老化
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QFN40 烧录座 0.5间距 翻盖测试座 艾科 编程座 单层板
1、
产品
用途:编程座、测试座,对QFN40的IC芯片进行烧写、测试
2、适用封装:QFN40引脚间距0.5mm
3、测试座:QFN40-0.5
4、特点:采用U型顶针,接触更稳定
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QFN68-0.4 芯片8×8mm 测试座 翻盖老化座 空座 编程座
产品
用途:编程座、测试座
适用封装:QFN68 引脚间距0.4mm 芯片尺寸8×8mm
测试座:QFN68-0.4
特点:采用U型顶针,接触更稳定
更多 +
GDDR5显卡测试治具GDDR5测试座GDDR5探针测试座
鸿怡电子拥有多年的socket设计、制作经验,可据据客户要求,提供专业的探针测试座,适用于IC研发、测试。
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为客制品WIFI模块测试座,定制品最快交货期4-5天(价格最终根据模块实际间距、PIN数以及客户的测试参数要求来定)详询我司工作人员。
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