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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: QFN20-0.5间距翻盖弹片芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFN20的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFN20，MLP20，MLF20 引脚间距0.5mm
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFN20-0.5间距转dip20芯片烧录座

产品用途:编程座、测试座，对QFN20的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN20引脚间距0.5mm
测试座:QFN20-0.5
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN16-0.5翻盖弹片芯片老化座

产品用途:编程座、测试座，对QFN16的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN16 引脚间距0.5mm 测试座:QFN16-0.5 特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN16-0.5翻盖弹片芯片测试座

产品用途:编程座、测试座，对QFN16的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN16 引脚间距0.5mm
测试座:QFN16-0.5
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN12-0.5翻盖弹片IC烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFN的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN12 引脚间距0.5mm 测试座：QFN12-0.5 特点：采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN12-0.5(3*3)翻盖弹片芯片老化测试座

产品用途：编程座、测试座，对QFN的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFN12 引脚间距0.5mm
测试座： QFN12-0.5
特点：采用U型顶针，接触更稳定
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: QFP100下压弹片IC烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFP100的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFP100引脚间距0.5mm
测试座：QFP100-0.5烧录座
特点：在两侧分别引出所有IO口，方便用...
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: QFP80下压弹片IC测试座

产品用途：编程座、测试座，对QFP80的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFP80引脚间距0.5mm 测试座：QFP80-0.5烧录座特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFP64下压弹片芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFP64的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFN64引脚间距0.5mm
测试座：QFP64-0.5烧录座
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: QFP64翻盖弹片芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFP64的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFP64 引脚间距0.5mm
测试座： STM32
特点：以排针方式引出芯片所有引脚，引脚间距为2.5...
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: QFP48下压弹片芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFP48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFP48引脚间距0.5mm
测试座：QFP48-0.5烧录座
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFP48翻盖弹片双层板IC烧录座编程测试座

产品用途：编程座、测试座，对QFP48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFP48、PQFP48、TQFP48，引脚间距0.5mm
测试座： QFT-48-0.5-06
特点：四周按芯片顺序引出...
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: QFP44下压弹片双层板芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFP44的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFP44引脚间距0.8mm
测试座：QFP4-0.8烧录座
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFP44下压弹片双层板芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFP44的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFP44引脚间距0.8mm
测试座：QFP4-0.8烧录座
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFP32-0.8翻盖弹片双层板烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFP32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFP32、PQFP32、TQFP32、FQFP32，引脚间距0.8mm
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: QFP48下压弹片芯片老化座 QFP测试座

产品用途：编程座、测试座，对QFP48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFP48、PQFP48、TQFP48，引脚间距0.5mm
测试座： QFT-48-0.5-06
特点：四周按芯片顺...
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: QFP176芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFP176的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFP176、引脚间距0.5mm
测试座：QFP176-0.5-06
特点:四周按芯片顺序引出所有引脚
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: QFP44下压弹片芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFP44的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFP44引脚间距0.8mm
测试座：QFP4-0.8老化座
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFP100下压弹片IC老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFP100的IC芯片进行烧写、测试适用封装： QFP100引脚间距0.5mm 测试座： OTQ-100-0.5-09 特点：在两侧分别引出所有IO口，方便用户整理插线
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: QFP80下压弹片芯片老化座

产品用途：老化座、测试座，对QFP80的IC芯片进行测试适用封装：TQFP80、 QFP80、引脚间距0.5mm 测试座： IC234-0804-001 特点：适用于TQFP80、 QFP80、引脚间距0.5mm的IC
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