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: 定制表贴器件SMD4pin-1.8mm-3.75x3.55mm合金翻盖探针测试座

SMD4pin器件测试座socket规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
器件封装形式：SMD
器件引脚：4pin
器件引脚间距：1.8mm
适配器件尺寸：3.75*3.55mm
接...
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: LGA30pin-1.0mm-10×10mm塑胶翻盖弹片射频器件测试座

LGA30pin芯片测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILUI
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：30pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：10*10mm
接触介质：弹片
测试座结构：...
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: HMILU定制功率探测器82pin-1.0mm-45x48mm合金翻盖式器件测试座

功率探测器82pin器件测试座规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
器件pin脚：82pin
器件引脚间距：1.0mm
适配器件尺寸：45*48mm
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: HMILU定制SOT23-16L-0.5mm-3.26x4.2mm蓝宝石盖分离式压合芯片测试座

SOT23-16L芯片测试座socket规格尺寸：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：SOT 23
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3.26*4.2mm
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: HMILU定制SOT23-8L-0.65mm-2.8x2.9mm蓝宝石盖分离式测试座

SOT23-8pin芯片测试座socket规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：SOT23
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：2.8*2.9mm
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: HMILU-模块44PIN-0.55mm-10.1x22.45mm合金翻盖测试座

模块44pin器件测试座socket规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
模块引脚：44pin
模块引脚间距：0.55mm
适配模块尺寸：10.1*22.45mm
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: HMILU-TO247-3pin-5.44mm-15.7×41.015mm合金翻盖功率器件测试座

功率器件TO247-3L测试座规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
功率器件封装：TO247
功率器件引脚：3pin
功率器件引脚间距：5.44mm
适配功率器件尺寸：15*41mm
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: SOT89-3L-1.5mm合金翻盖探针器件测试座

SOT89系列-3L器件测试夹具规格参数：
生产厂家品牌：鸿怡电子—HMILU
器件封装形式：SOT89
器件引脚：3pin
器件引脚间距：1.5mm
期间含引脚尺寸：4*4.5mm
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: TOLL9PIN-1.2mm-9.9×11.68mm合金旋钮翻盖分立器件测试座

TOLL9pin分立器件测试座规格参数信息：
生产品牌：HMILU
封装类型：TOLL
器件引脚：9pin
引脚间距：1.2mm
适配分立器件尺寸：9.9*11.68mm
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: 8+8pin-0.35pin-2.0×2.0mm光感探测器测试座

8+8pin光感探测器件测试座规格参数：
生产厂家：HMILU
器件引脚：8+8pin（正面8pin+背面8pin）
器件引脚间距：0.35mm
器件尺寸：2*2mm
器件厚度：1.0mm
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: 感光器件4pin-1.1mm-3×0.9mm合金翻盖测试座

4pin感光器件测试座规格参数信息：
品牌：HMILU
器件引脚：4pin
器件引脚间距：1.1mm
器件尺寸：3*0.9mm
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: TO252-3PIN-2.286mm-6.8x7.1mm合金翻盖测试座

TO252-3L功率器件测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：TO252
器件引脚：3pin
引脚间距：2.286mm
适配尺寸：6.8*7.1mm
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: TOLL9pin-1.2mm-9.9X11.68mm合金旋钮翻盖测试座

TOLL9pin功率器件测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：TOLL
器件引脚：9pin
引脚间距：1.2mm
适配器件尺寸：9.9mm
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: 光耦芯片14pin-1.27mm-22x2mm合金旋钮翻盖测试座

光耦14pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片引脚：14pin
引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：22*27mm
芯片厚度：5mm
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: 探测器件82pin-1.0mm-45x48mm合金翻盖测试座

探测器件82pin测试座规格参数：
品牌：HMILU
探测器件pin脚：82pin
探测器件引脚间距：1.0mm
探测器件尺寸：45*48mm
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: 定制12pin-2.54mm-19.5x16.5合金翻盖直插式元器件可靠性测试座

元器件可靠性直插式测试座规格参数：
品牌：HMILU
元器件引脚：12pin
元器件引脚间距：2.54mm
适配元器件尺寸：19.5*16.5mm
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: 定制CLCC84pin-0.8mm-22X22mm合金翻盖测试座

CLCC84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：CLCC
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：22*22mm
芯片厚度：4.25mm
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: 新款TO247-4pin老炼座-TO老化座

TO247器件老化测试座规格参数：
器件封装类型：TO247
引脚：4pin
引脚间距：5.44mm
测试座类型：下压式
适用场景：老化/测试/烧录
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: 定制TO252-5pin合金翻盖老化座

TO252-5pin老化测试座规格参数：
封装类型：TO252
引脚：5pin
引脚间距：1.14mm
本体尺寸：6.4mm
含引脚尺寸：10.6mm
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: PDFN/TOLL/TO等封装的大电流大功率半导体器件MOS场效应管老化测试座测试夹具工装老化插座socket

老化座特点： ①该老化座采用PEI耐高温塑胶材料注塑成型，适用于长时间高温高湿（85%HR，175℃）环境下老化（htol/hast）且交期短； ②采用按压式结构，适用于自动化设备大批量放取MOS场效应管器件，大大提高测试效...
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