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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: QFP100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座

QFP100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.65mm
芯片本体尺寸：20*20mm
含引脚尺寸：24*24mm
更多 +

: 定制LCC48pin-0.5mm-8.5x8.5mm合金翻盖探针测试座

LCC48pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：8.5*8.5mm
更多 +

: QFN20pin-0.65mm芯片老化测试座

QFN20pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.65mm
适用芯片尺寸：5*5mm
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: SOT23-3pin-1.4mm芯片老化测试座

SOT23-3pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOT23
芯片引脚：3pin
适配IC本体尺寸：1.4mm
适配IC含引脚尺寸：2.4mm
更多 +

: JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座

JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：JFP/OTS/SOP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5mm
更多 +

: 定制JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座

JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：SOP/JFP/OTS
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：1.9mm
适配芯片尺寸：10.5mm
更多 +

: QFP64pin-0.5mm-10×10mm下压弹片老化测试座

QFP64pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片本体尺寸：10*10mm
含引脚尺寸：12*12mm
更多 +

: QFP32pin-0.8mm-7×7mm翻盖弹片老化座

QFP32pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片本体尺寸：7*7
喊引脚尺寸：9*9
更多 +

: QFP100pin-0.5mm-14×14mm芯片下压弹片老化测试座

QFP100pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片本体尺寸：14*14mm
含引脚尺寸：16*16mm
更多 +

: 定制晶振5032-10pin-1.0mm-5x3.2mm一拖16工位合金翻盖测试座

5032晶振一拖16工位测试座规格参数：
晶振引脚：10pin
晶振引脚间距：1.0mm
晶振尺寸：5*3.2mm（5032）
一拖16工位测试座
更多 +

: 定制BGA24pin-1.0mm-6x8mm塑胶翻盖晶振测试座

BGA24pin晶振测试座规格参数：
封装类型：BGA
引脚：24pin
引脚间距：1.0mm
适用芯片尺寸：6*8mm
更多 +

: 定制17pin-1.54mm-29x29mm金手指模块测试座

金手指模块测试座规格参数：
模块引脚：17pin
模块引脚间距：1.54mm
模块尺寸：29*29mm
更多 +

: 定制QFN60pin-0.55mm-12x6.6mm合金翻盖探针测试座

QFN60pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：60pin
芯片引脚间距：0..55mm
适用芯片尺寸：12×6.6mm
更多 +

: QFP32pin-0.8mm-7*7mm翻盖老化测试座

QFP32pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片本体尺寸：7*7mm
芯片含引脚尺寸：9*9mm
更多 +

: TO277B-3L-SMC5翻盖老化座

TO277B老化测试座规格参数：
封装类型:TO
IC间距:1.8mm
IC本体尺寸:5.4mm
IC含脚尺寸:6.5mm
更多 +

: SOP24(28)pin-0.65mm带接地耐高温下压弹片老化座

SOP24pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.65mm
本体尺寸：4.4mm
喊引脚尺寸：6.4mm
更多 +

: SOT23-6L-1.7mm翻盖式老化测试夹具

SOT23封装芯片老化座规格参数：
型号：SOT23-6L-1.7翻盖式
芯片封装类型：SOT23
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：1.7mm
更多 +

: QFN24pin-0.5mm-4x4弹簧翻盖老化座

QFN芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：4*4mm
更多 +

: 定制QFN32pin-0.4mm-4x4mm下压合金探针测试座

QFN芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.4mm
适用芯片尺寸：4*4mm
更多 +

: 定制模块15pin-2.0mm-12.2x12.9mm塑胶翻盖测试座

模块测试座规格参数：
模块引脚：15pin
模块引脚间距：2.0mm
适用模块尺寸：12.2*12.9mm
更多 +

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