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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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[新闻中心]半导体芯片测试：高低温老化（HTOL）测试--老化测试座sokcet2023年07月12日 14:59: 根据鸿怡电子老化测试座工程师介绍：芯片老化测试被广泛应用于半导体电子产品的开发和生产中，其目的是通过模拟实际操作情况下的高温环境，来测试芯片在高温下的运行情况和性能变化。该测试是电子产品质量控制过程中必不可少的一步。 HTOL测试中每个环节都非常重要。一旦某一环节出现问题，导致芯片故障，将直接导致大量的人力、物力和财力，而且由于老化过程数据不足，难以分析具体原因。由于老化测试周期长，许多芯片公司很难承受重新进行老化测试的时间成本。对于老化试验，从样品的选择和测试、老化板方案; 阅读（11）标签：产品|新闻

[新闻中心]PDFN/TOLL/TO等封装的大功率半导体器件MOS场效应管如何进行老化测试2022年03月17日 10:18: 功率器件及第三代半导体是当前的半导体产业技术追逐的热点，也是国内半导体产业中最有希望能够赶超世界先进技术的领域之一。现在众多国产功率半导体厂商已经在材料、设计、制造、封测等各个环节成功突围，逐渐形成自主可控的完整产业链。但是在产业最上游的高端封装设备领域，却仍以国外企业为主导，为加速推动功率半导体高端封装，制造设备国产化进程已经刻不容缓。伴随着功率半导体时代到来，Clip Bond封装工艺在此可以说是大有作为，相对数字集成电路而言，功率半导体并不是单纯追求线宽的缩小，且生; 阅读（102）标签：PDFN封装测试座|TOLL封装测试座|MOS场效应管老化测试|产品

[根栏目]定制SOP8-1.27-11.5×7.5测试座2021年10月25日 17:19: 工厂介绍鸿怡电子生产定制SOP8-1.27-11.5×7.5测试座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。; 阅读（38）标签：产品|QFN系列|DFN8|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN28-0.4芯片测试座_烧录座_编程座_QFN芯片老化座2021年10月18日 11:35: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN28-0.4芯片测试座_烧录座_编程座_QFN芯片老化座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN28的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN28引脚间距0.4mm测试座:QFN28-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-28-0.4引脚间距(mm):0.4脚位; 阅读（65）标签：DFN8|QFN系列|产品|QFN老化座|QFN烧录座|WSON8|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]QFN32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座2021年10月18日 11:29: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。产品简介产品用途：编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN32引脚间距0.5mm测试座：QFN32-0.5特点：底部引出引脚为不规则排列规格尺寸QFN32编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：; 阅读（39）标签：DFN8|QFN系列|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN3X3-16L(0.5)带顶针镀金老化座_编程座_烧录夹具插座2021年10月18日 11:10: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN3X3-16L(0.5)带顶针镀金老化座_编程座_烧录夹具插座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。老化测试座QFN3X3-16L(0.5)带顶针镀金老化座编程座烧录夹具插座适配封装：QFN封装-16PIN间距：0.5mm尺寸：3*3mm; 阅读（44）标签：产品|QFN系列|DFN8|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]定制IC测试座_QFN56（8×8）0.5间距下压弹片老化座_烧写座2021年10月18日 11:02: 工厂介绍鸿怡电子生产定制IC测试座_QFN56（8×8）0.5间距下压弹片老化座_烧写座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN56引脚间距0.5mm测试座:QFN56-0.5特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-56-0.5引脚间距（; 阅读（33）标签：QFN系列|DFN8|产品|WSON8|QFN烧录座|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]QFN84老化座_0.4间距翻盖弹片测试座_适配器编程座_IC转换插座2021年10月14日 11:04: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN84老化座_0.4间距翻盖弹片测试座_适配器编程座_IC转换插座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN84的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN84 引脚间距0.4mm测试座:QFN84-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-84-0.4引脚间距(mm):; 阅读（29）标签：产品|QFN系列|DFN8|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN80-0.4芯片测试座_翻盖IC老化座_编程座IC549-06042021年10月14日 10:50: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN80-0.4芯片测试座_翻盖IC老化座_编程座IC549-0604，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。产品简介A、产品用途:编程座、测试座，对QFN60的IC芯片进行烧写、测试B、适用封装:QFN80引脚间距0.4mmC、测试座:QFN80-0.4D、特点:采用U型顶针，接触更稳定E、我司可提供规格书（布板图），PD; 阅读（34）标签：产品|QFN系列|DFN8|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN76老化座_0.4间距翻盖弹片测试座_适配器烧写座2021年10月14日 10:35: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN76老化座_0.4间距翻盖弹片测试座_适配器烧写座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN76的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN76 引脚间距0.4mm测试座:QFN76-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-76-0.4引脚间距(mm):0.4脚位:; 阅读（30）标签：产品|QFN系列|DFN8|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN72-0.5翻盖弹片测试座_qfn72老化座_编程器测试座2021年10月14日 10:19: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN72-0.5翻盖弹片测试座_qfn72老化座_编程器测试座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。产品简介产品用途：编程座、测试座，对QFN72的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN72引脚间距0.5mm测试座：QFN72-0.5特点：底部引出引脚为不规则排列规格尺寸QFN72编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适; 阅读（14）标签：车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|QFN系列|DFN8|产品

[鸿怡动态]QFN64-0.4芯片测试座_翻盖老化座_IC549-0644-008-G烧录座2021年10月13日 11:44: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN64-0.4芯片测试座_翻盖老化座_IC549-0644-008-G烧录座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。封装：QFN-64-04 尺寸：8*8型号：IC549-0644-008-G; 阅读（26）标签：产品|QFN系列|DFN8|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN60-0.老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖编程座_镀金弹片2021年10月13日 11:30: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN60-0.老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖编程座_镀金弹片，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN60的IC芯片进行老化、测试适用封装:QFN60引脚间距0.4mm测试座:QFN60-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-60-0.4引脚间距(mm):0.4; 阅读（16）标签：车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|QFN系列|DFN8|产品

[鸿怡动态]QFN56-0.4芯片测试座_下压老化座_NP506-056-006-SC-G编程座2021年10月13日 11:16: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN56-0.4芯片测试座_下压老化座_NP506-056-006-SC-G编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN56引脚间距0.4mm测试座:QFN56-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-56-0.4引脚间距; 阅读（11）标签：DFN8|QFN系列|产品|WSON8|车规芯片老化测试座|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN52-0.5老化座_芯片测试座_编程座_IC550-0524-010-G2021年10月12日 12:20: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN52-0.5老化座_芯片测试座_编程座_IC550-0524-010-G，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN52的IC芯片进行老化、测试适用封装:QFN52引脚间距0.5mm测试座:QFN52-0.5特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-52-0.5引脚间距(m; 阅读（10）标签：产品|QFN系列|DFN8|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN老化座|QFN烧录座

[鸿怡动态]QFN48老化座0.4间距测试座翻盖弹片IC550-0484-004-G适配座2021年10月12日 10:18: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN48老化座0.4间距测试座翻盖弹片IC550-0484-004-G适配座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。产品简介产品用途：编程座、测试座，对QFN48的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN48-0.4测试座：QFN48-0.4老化座规格尺寸QFN48编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座; 阅读（12）标签：QFN系列|DFN8|产品|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]QFN48-0.5烧录测试座_QFN48老炼座_镀金适配座_高温老化座2021年10月11日 10:31: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN48-0.5烧录测试座_QFN48老炼座_镀金适配座_高温老化座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途：编程座、测试座，对QFN48的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN48-0.4测试座：QFN48-0.4老化座规格尺寸QFN48编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：; 阅读（22）标签：产品|QFN系列|DFN8|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]QFN44-0.4芯片测试座_翻盖老化座_镀金IC编程座IC549-0444-015-G2021年10月09日 17:09: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN44-0.4芯片测试座_翻盖老化座_镀金IC编程座IC549-0444-015-G，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN44的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN44引脚间距0.4mm测试座:QFN44-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-4; 阅读（18）标签：产品|QFN系列|DFN8|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN40-0.4芯片座_QFN40老化座_间距0.4下压老化座2021年10月09日 16:38: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN40-0.4芯片座_QFN40老化座_间距0.4下压老化座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN40的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN40引脚间距0.4mm测试座:QFN40-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-40-0.4引脚间距(mm; 阅读（23）标签：产品|QFN系列|DFN8|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]QFN36-0.5翻盖弹片测试座_qfn36老化座_编程座_Burn-in Socket2021年10月09日 16:21: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN36-0.5翻盖弹片测试座_qfn36老化座_编程座_Burn-in Socket，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途：编程座、测试座，对QFN36的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN36引脚间距0.5mm测试座：QFN36-0.5特点：底部引出引脚为不规则排列规格尺寸QFN36编程座; 阅读（16）标签：QFN系列|产品|DFN8|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|车规芯片老化测试座

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