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» 搜索:定制测试座
定制BGA144-15x15合金旋钮翻盖测试座老化座高温老炼夹具测试socket
产品简介
①适配封装:BGA144,pitch1.27mm,尺寸15*15mm,厚度1.15mm。
②电气性能:频率600Mhz,电压小于5V,电流小于1A。
③使用环境温度:-55℃~155℃,85%rh,1000小时。
④应用场景:老化...
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定制LCC48-1.0合金翻盖探针测试座烧录座夹具socket
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制22pin惯性传感器模块测试座socket老化老炼夹具
产品特点:?
①翻盖旋钮结构,压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短...
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定制邮票孔模块测试座烧录socket夹具治具
产品特点及性能参数:
采用翻盖式旋钮结构,下压平稳接触稳定;?
高精度的定位槽,保IC定位精确;
探针可更换,维修方便,成本低;
KEEP工程绝缘材料制作;
最小可做到跳距pitch=0.35mm(引...
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定制 QFN64 射频芯片 测试座 加接地铜块散热 测试夹具 老化座 socket
性能参数:
工作频率:8GHZ@1DB;
工作温度:-55℃~155℃;
单PIN电流:1A;
功率:3W;
接触阻抗:≤100mΩ
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定制 QFN40 MCU 测试架 测试治具 测试夹具 测试工装 socket 探针
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试MCU芯片QFN40封装的IC是否正常。
特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,...
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定制 邮票孔WiFi模块 测试座 烧录座 48PIN PCB模块测试 夹具 socket
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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晶圆级封装 WLCSP115pin封装 芯片烧录座夹具 读写编程座 老化测试座socket
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制BGA132封装SSD颗粒测试座老化夹具测试工装烧录读写编程座
测试座特点
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖旋钮式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力...
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定制 LGA30封装 射频芯片 测试座 测试夹具 10G高频socket
产品简介:
应用:射频频芯片测试
性能要求:频率最高10GHZ,,插损小于1db, 驻波小于-15db, 电流630mA。
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定制 CICS13A 传感器 探针测试座 socket 夹具 治具 测试工装
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制LGA28老化夹具测试座socket MUC芯片测试
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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定制BGA616模块测试座 老化夹具 大功率散热测试座
产品简介
封装:BGA模块,616pin
pitch:1.6mm
外形尺寸:50*50mm
测试速率:13.5Gbps, 高低温-40℃-125℃
电流:单PIN过流0.5A、
使用寿命:10W+,
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定制 QFN20 合金翻盖探针 测试座 测试夹具 治具 socket MCU测试
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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显卡 GPU芯片 水冷 测试治具 测试夹具工装 BGA测试座
显卡GPU芯片测试治具
采用水冷方式散热
Socket材料:优质铝合金、PPS工程塑料(耐磨性、抗干扰性信强)
接触阻抗:100 mohm(最大工作行程状态下)
机械寿命:100000;
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BGA291 射频 测试座 高频 测试夹具 治具 测试工装 socket
1、工作温度:-55℃~155℃@5000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单PIN额定电压&电流:直流12V&1.0A;
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定制BGA771-0.5_15×15翻盖旋钮探针测试座
产品名称:BGA771-0.5翻盖旋钮探针测试座
适配芯片:BGA封装,0.5间距,15*15mm
使用用途:对BGA芯片作性能筛选测试
支持一件起定制,欢迎发图询价
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定制SMD模块6pin-1.27翻盖合金探针测试座夹具编程烧录转换座
非标邮票孔模块测试座特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:PEI、PAI;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多...
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QFN32-0.5(5×5)下压探针老化座(下信号PIN13针+接地针4根,共17根)
测试座(夹具)特性
①结构:按压式(下压);
②外壳材质:PEI;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:PEI;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制QFN14合金翻盖探针测试座夹具读写烧录编程座
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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