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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: BGA378定制测试座 BGA378测试座 BGA测试socket 定制BGA测试治具

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: IC芯片测试治具 3UA78IC模块烧录座 1.0间距定制各类封装测试夹具

客制品-根据客户提供模块参数，定制模块测试座
18年定制测试座工厂
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: 客制品-wifi模块测试座

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: 专业定制BGA翻盖旋钮合金芯片测试座

我公司专业定制各类BGA芯片测试治具，适合封装脚位有：BGA152、BGA137、BGA100、BGA96、BGA88等.. 结构：双扣、翻盖旋钮、翻盖、下压等接触方式：探针
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: 5032-4PIN单面弹晶振测试座

产品数据:
1、材料：PEI
2、适用IC尺寸：1.5x1.5～12x12mm
3、最高频率：>9.3GHZ
4、结构：Open-top/翻盖
5、接触方式：探针
6、工作温度：-55°C～175°C
探针接触细节
产...
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: 5032贴片晶振测试座

Open-top结构采用双触点技术，接触更稳定测试座外壳采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长弹片采用进口铍铜材料，阻抗小、弹性好镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度
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[新闻中心]鸿怡HMILU分享：低功耗、高精密温度传感器芯片的工作原理、测试解决方案2024年10月10日 15:17: 在现代技术迅猛发展的背景下，温度传感器芯片成为众多行业中至关重要的组成部分。温度传感器芯片不仅在工业自动化、消费电子、医疗设备中广泛应用，还为科学研究和环境监测等领域提供了坚实的技术支持。一、温度传感器芯片的工作原理温度传感器芯片的核心任务是检测环境温度，并将温度变化转化为电信号输出。一般情况下，温度传感器可以分为接触式和非接触式两大类。接触式温度传感器通过与物体直接接触获得温度数据，常见的有热敏电阻、热电偶和RTD（电阻温度检测器）。非接触式则通过辐射温度测量，如红外; 阅读（5）标签：新闻|产品|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架

[新闻中心]鸿怡电子IC测试座工程师：AR/VR眼镜核心技术解析，其测试解决方案分享2024年07月23日 16:50: 增强现实（AR）和虚拟现实（VR）逐渐成为推动未来变化的重要科技之一。在这些革命性产品中，AR/VR眼镜无疑是其技术前沿的代表。鸿怡电子IC测试工程师介绍：为了充分发挥其潜能，AR/VR眼镜往往集成了多种顶尖技术，包括芯片、传感器、WiFi模块、蓝牙模块和光学模组。一、AR/VR眼镜的芯片技术 1.1 芯片概述 AR/VR眼镜中的芯片是一整体系统中的关键组件，性能高低直接关系到设备的运算能力与用户体验。目前，常见的芯片类型有CPU（中央处理器）、GPU（图形处理单元）及U; 阅读（3）标签：新闻|产品|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架

[新闻中心]光子芯片测试：其封装特点与鸿怡电子芯片测试解决方案，光子芯片测试座的选配2023年11月13日 15:16: 光子芯片：打破信息传输瓶颈的创新利器在信息时代，数据的传输速度和处理能力成为了关键问题。而光子芯片的出现，给这一领域带来了实质性的进展。鸿怡电子芯片测试座工程师介绍：光子芯片是一种利用光传输信息的技术，其基本原理是利用光的特性进行信号的传输和处理。与传统的电子芯片相比，光子芯片具有更高的传输速度和更低的能耗。这使得光子芯片在大规模数据传输、云计算、人工智能等领域具有广泛应用的潜力。 1、光子芯片具有更高的传输速度。光信号的传输速度可以达到光速，比电子信号的传输速度快上几百; 阅读（9）标签：新闻|产品|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架

[新闻中心]芯片测试：芯片有哪些测试项？分别对应的芯片测试座特点2023年08月29日 14:35: 每一款芯片都需要做测试吗？芯片测试是在哪个环节进行的？主要有哪些测试项?芯片测试座有哪些特点？为了保证芯片的质量和稳定性，每一款芯片在生产线上都需要经过严格的测试，不论是单个芯片还是芯片集成电路，都需要经过一系列的测试流程以确保其正常工作。据鸿怡电子芯片测试座工程师称在芯片研发设计阶段开始，工程师就需要提前掌握好各个环节的步骤以及成本问题，在芯片生产的早期阶段，通过对样品进行测试，可以发现并修复潜在的设计问题，保证后续大规模生产中的高良率。而在芯片集成电路中，各个芯片之间; 阅读（11）标签：产品|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架|QFN系列|BGA测试座|SOP测试座|QFP芯片测试座

[新闻中心]多维度详解衰减器的芯片类型、特性和封装及如何选择测试座socket2023年07月25日 16:30: 多维度详解衰减器的芯片类型、特性和封装及如何选择测试座socket 衰减器（Attenuator）在电子通信和射频系统中扮演着重要角色，用于调节信号强度。本文将根据近期鸿怡电子接到的衰减器芯片测试座socket案例进行详细介绍衰减器的芯片类型、特性和封装，以及测试衰减器好坏的方法，同时也探讨如何选择与需求匹配的测试座。 I. 衰减器的芯片类型衰减器的芯片类型取决于应用需求。常见的芯片类型包括： 1. 表面贴装封装（SMT）：其中包括无引线平面封装（QFN）和小尺寸; 阅读（4）标签：新闻|产品|定制IC测试架|定制测试座|定制测试治具

[鸿怡动态]QFN测试座是什么？QFN测试座该如何选型？-鸿怡电子HMILU2022年10月24日 10:58: QFN测试座是什么？QFN测试座该如何选型？-鸿怡电子HMILU 在芯片封测行业市场上，QFN封装芯片有3种测试，测试、烧录、老化，即对应QFN测试座、QFN烧录座、QFN老化座。 HMILU案列： QFN探针测试座特点：芯片引脚：64pin 芯片引脚间距：0.5mm 芯片尺寸：9×9mm 采用合金材料旋钮方式，无缝隙压合 QFN封装具有良好的热性能，QFN封装底部有一个大面积的散热焊盘，可以用来传递封装芯片工作产生的热量，从而有效地将热量从芯片传递到芯; 阅读（140）标签：QFN系列|QFN烧录座|QFN老化座|产品|新闻|定制IC测试架|定制测试座|定制测试治具

[新闻中心]EMMC存储芯片测试基础知识2022年02月22日 17:29: eMMC存储芯片被广泛地应用在手机、平板电脑、GPS终端、电子书和其他应用微处理器的消费电子设备和工业物联网设备中。在将eMMC芯片集成到电路设计中时经常会出现各种问题。信号的一致性测试可以帮助用户调试eMMC存储接口的信号完整性问题。本文整理归纳有关嵌入式多媒体卡eMMC芯片基础知识及eMMC信号完整性测量案例。一、eMMC基础知识：接口名称：eMMC 英文全称：embedded MultimediaCard 中文：嵌入式多媒体卡标准维护和制定：JEDEC Mul; 阅读（1152）标签：定制测试座|定制IC测试架|产品

[常见问题]IC测试座的清洁和保养2021年10月08日 12:18: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。 IC测试座使用一段时间后，针尖会残留一些锡渣或者灰尘，将引起测试不稳定；可以使用防静电刷，蘸上无水酒精，轻轻刷探针去除残留物，有条件可以使用气枪吹socket探针区域，效果更好；（注意：不要使用洗板水，因为洗板水会和探针表面镀金层反应，影响测试稳定性）如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（78）标签：产品|QFN系列|DFN8|BGA测试座|BGA定制测试座|BGA老化测试座|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组

[常见问题]ICsocket关于PCB板的设计2021年10月08日 12:15: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。为了保障PCB板的强度和接触稳定性，建议客户PCB板的厚度1.6mm，焊盘镀金抗氧化性更强，锁螺丝处覆铜；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（91）标签：产品|QFN系列|DFN8|BGA测试座|BGA定制测试座|BGA老化测试座|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组

[常见问题]产品结构件材料的性能区别2021年10月08日 12:09: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。钻孔板、浮板为socket的核心部件，起到固定探针，导向芯片的作用，测试时经常磨损，所以对材料的要求很高，目前市面上常用的材料有FR4、Torlon PAI、PEI、PPS、peek+陶瓷等。 FR4是普通材料，性能最差，容易磨损，毛刺较多，长时间测试，容易出现测试不稳定现象，已经慢慢淘汰，而其他四种为工; 阅读（124）标签：DFN8|QFN系列|产品|BGA测试座|BGA定制测试座|BGA老化测试座|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组

[常见问题]探针烧毁的原因分析2021年10月08日 12:04: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。某些IC芯片有可能内部短路，在测试时，造成电流过大，引起探针、针板等配件烧坏，甚至烧坏客户的PCBA板，所以在上电测试之前一定要确保IC芯片是没有内部短路的；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（86）标签：BGA测试座|DFN8|QFN系列|车规芯片老化测试座|WSON8|产品|BGA老化测试座|BGA定制测试座|QFN烧录座|微针模组|QFN老化座

[常见问题]有锡球/无锡球测试的区别2021年10月08日 12:01: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。有锡球测试：指测试带有完整锡球的IC芯片，采用爪头探针，直接与锡球接触；无锡球测试：指测试没有锡球的IC芯片，采用尖头探针，直接与PAD接触；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（51）标签：DFN8|QFN系列|产品|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组|车规芯片老化测试座|BGA老化测试座|BGA测试座|BGA定制测试座

[常见问题]测试探针的结构和使用寿命2021年10月08日 11:56: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。一般探针的材质为铍铜，外为镀镍金，由四个部分组成：针头、针管、针尾、琴钢丝；以此款探针的为例，管径为0.65mm，适用于0.8pitch；耐电流为：3A；机械测试寿命为：30 W次；使用温度为：-25～+120C；如有其他不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（280）标签：产品|QFN系列|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组|车规芯片老化测试座|BGA老化测试座|DFN8|BGA测试座|BGA定制测试座

[常见问题]ICsocket相关测试座产品报价原则？2021年10月08日 11:03: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。; 阅读（51）标签：产品|QFN系列|DFN8|BGA测试座|BGA定制测试座|BGA老化测试座|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组

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