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: 定制BGA144pin-1.27mm-（16x16x5.01mm）合金旋钮探针测试座

BGA144pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片尺寸：16*16mm
芯片厚度：5.01mm
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: 定制传感器模块29pin-1.1mm-27.5x27.5mm合金翻盖探针测试座

传感器模块测试座规格参数：
模块引脚：29pin
引脚间距：1.1mm
模块尺寸：27.5*27.5mm
更多 +

: 定制4pin（15.9x12.3mm)电极模块测试座

电极模块测试座规格参数：
模块引脚：4pin
模块尺寸：14*12mm
模块厚度：4mm
更多 +

: 定制QFN32pin-0.5mm-5x5mm合金旋钮翻盖探针测试座

QFN32pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：5*5mm
更多 +

: 定制QFN16pin-0.5mm-4x4mm翻盖合金探针测试架

QFN16pin芯片测试架规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：4×4mm
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: 定制LGA79pin-1.1mm（16x12.2mm)合金翻盖测试座

LGA79pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：79pin
芯片引脚间距：1.1mm
芯片尺寸：16×12.2mm
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: 定制QFN88pin-0.4mm(10x10mm)翻盖合金探针老化测试座

QFN88pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：88pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：10×10mm
更多 +

: 定制SOT89-5L-1.5mm（2.5x4.5mm）合金翻盖探针测试座

SOT89封装芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：SOT89
芯片引脚：5pin
芯片引脚间距：1.5mm
芯片尺寸：2.5×4.5mm
更多 +

: 定制LGA36pin-0.8mm（9x9mm）合金翻盖探针测试座

LGA封装芯片探针测试座规格参数
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：36pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片尺寸：9×9mm
更多 +

: 定制WLCSP10pin-0.4mm- 1.649x1.483mm塑胶翻盖探针测试座

WLCSP10pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：WLCSP
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：1.649*1.483mm
更多 +

: 定制DFN8pin-0.65mm-2.8x3mm合金翻盖测试座

DFN8pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.65mm
芯片尺寸：2.8*3mm
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: 定制LGA124pin-0.5mm-（8.2x10.5mm)合金旋钮探针老化座

LGA124pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：124pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：8.2*10.5mm
更多 +

: 定制TSOP50pin-0.5mm-16.6x23mm合金翻盖测试座

TSOP50pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：TSOP
芯片引脚：50pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：16.6*23mm
更多 +

: 定制IPM模块25PIN-1.3mm-32x15mm塑胶下压探针测试座

IPM模块测试座规格参数：
DIP封装
模块引脚：25pin
引脚间距：1.3mm
模块本体尺寸：32×15mm
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: 定制BGA13pin（实际72pin）-0.5mm-4.5x5mm下压合金探针测试座

BGA13pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：13pin（实际下针72pin）
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：4.5×5mm
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: 定制BGA144pin（只下35PIN）-0.75mm-9x9mm合金翻盖探针测试座

BGA144pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：0.75mm
芯片尺寸：9*9mm
芯片厚度：1.2mm
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: QFN88pin-0.5mm-12×12mm芯片下压老化座

QFN88pin芯片老化座规格尺寸
A、型号:QFN-88-0.5
B、引脚间距(mm):0.5
C、脚位:88pin
D、芯片尺寸:12*12mm
E、对应国外型号790-62088-101T
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: QFN64pin-0.4mm-8×8mm芯片下压老化座

QFN64pin芯片老化座规格尺寸
A、型号:QFN-64-0.4
B、引脚间距(mm):0.4、0.35、0.5mm
C、脚位:64pin
D、芯片尺寸:8*8mm、7*7mm
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: QFN56pin-0.35mm-7×7mm下压老化测试座

QFN56pin芯片老化座规格尺寸：
型号:QFN-56-0.35
引脚间距(mm): 0.35
脚位:56pin
适配芯片尺寸:6*6 mm
更多 +

: QFN60pin-0.4mm-8×8mm下压老化测试座

QFN60pin芯片老化座规格尺寸：
A、型号:QFN-60-0.4
B、引脚间距(mm):0.4
C、脚位:60pin
D、芯片尺寸:8*8mm
对应国外型号790-61060-101T
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