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: 定制LCC22pin-2.03mm-15.2*15.2mm芯片合金翻盖探针测试座

LCC22pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：22pin
芯片引脚间距：2.03mm
适配芯片尺寸：15.2*15.2mm
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: 定制QFN40pin-0.5mm-6x6mm合金翻盖探针测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：6*6mm
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: 定制12pin-2.54mm-19.5x16.5合金翻盖直插式元器件可靠性测试座

元器件可靠性直插式测试座规格参数：
品牌：HMILU
元器件引脚：12pin
元器件引脚间距：2.54mm
适配元器件尺寸：19.5*16.5mm
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: 定制BGA219pin-1.27mm-21.1x21.1mm塑胶旋钮翻盖测试座

BGA219pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：219pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：21.1*21.1mm
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: 定制QFP80pin-0.4mm-12*12mm手自一体压合式芯片测试座

QFP80pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
结构：手自一体压合式
芯片封装形式：QFP
芯片引脚：80pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：12*12mm
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: 定制BGA107pin-1.0mm-14.1x17.1mm合金翻盖老化座

BGA芯片测试座规格参数信息：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：107mm
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：14.1*17.1mm
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: 定制QFN60pin-0.4mm-7*7mm合金旋钮翻盖探针测试座

QFN60pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：60pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：7*7mm
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: 定制模块100pin（实际下针37pin）-0.7mm-13.3x18.4mm合金翻盖测试座

100pin模块测试座规格参数：
品牌：HMILU
模块引脚：100pin，实际下针37pin
模块引脚间距：0.7mm
适配模块尺寸：13.3*18.4mm
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: 定制LCC48pin-0.8mm-11x11x1.82mm合金翻盖探针测试座

LCC48pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：11*11mm
芯片厚度：1.82mm
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: 定制VSSOP32pin-0.5mm-4.9x8.1mm合金顶窗下压测试座

VSSOP32pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：VSSOP
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4.9*8.1mm
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: 定制VSSOP32pin-0.5mm-4.9x8.1mm合金顶窗下压测试座

VSSOP32pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：VSSOP
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4.9*8.1mm
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: 定制光电模块MSOP8pin-0.65mm-3x3mm合金翻盖探针测试座

MSOP8pin光电模块测试座规格参数：
品牌：HMILU
模块封装形式：MSOP
模块引脚：8pin
模块引脚间距：0.65mm
适配光电模块尺寸：3*3mm
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: 定制QFN32pin-0.5mm-5x5mm合金顶窗下压测试座

QFN32pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：5*5mm
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: 定制SOT23--8L-0.65mm-2.9x2.8mm合金顶窗下压测试座

SOT23-8L芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：SOT23
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：2.9*2.8mm
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: 定制QFN20pin-0.4mm-3x3mm合金顶窗下压测试座

QFN20pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：3*3mm
更多 +

: 定制QFN16pin-0.4mm-3x2mm芯片合金顶窗下压测试座

QFN16pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：3*2mm
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: 定制BGA169pin-0.5mm-7x7mm芯片合金旋钮翻盖测试座

BGA169pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：169pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：7*7mm
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: 定制QFN24pin-0.5mm-4x4mm合金顶窗下压测试座

QFN24pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4*4mm
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: 定制BGA484pin-0.8mm-18x18mm合金翻盖探针测试座

BGA484pin大阵例芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：484pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：18*18mm
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: 定制LCC24pin-1.27mm-10x10mm合金翻盖探针测试座

LCC24pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：10*10mm
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