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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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精密定制各类CPU测试治具、BGA测试座；
独创方法保证连接定可靠；采用进口探针和防静电材料制作；探针可以更换，维修方便；
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: 苹果排线测试系统空排测试解决方案 FPC测试夹具软排线测试治具

硬件/软件全部自有知识产权！IC夹具测试座历经市场检验，稳定可靠！测试寿命长！整套测试系统 = 收据采集仪器 + 排线测试夹具（多种型号可选配） + 电脑端软件比对分析。软件界面即时显...
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: QFN10（3*3）下压弹片测试座芯片适配座QFN10老化座0.5间距

鸿怡电子主要生产、销售各类IC测试座,IC测试夹具,老化测试座,高频测试座,BGA测试插座,贴片SOP测试插座等.测试座封装含概:BGA,,CSP,PGA,QFN,MLF,LGA,QFP,TSOP,SOP,PLCC,SOJ,TO等,并且可以根...
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: IC芯片测试治具 3UA78IC模块烧录座 1.0间距定制各类封装测试夹具

客制品-根据客户提供模块参数，定制模块测试座
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欢迎来图咨询定制
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: 客制品BGA一拖四测试治具

根据客户需求定制BGA一拖四或一拖二、一拖一测试治具
无需lay板，可直接装在客的PCB板上
可批量测试/烧录四颗BGA芯片,省时省力
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: DDR3X8一拖八内存颗粒测试夹具

DDR3×8 一拖四POGO PIN探针结构测试治具
规格：
1、DDR3×8 78 Ball
2、频率F：超过1600Mhz
3、使用于：三星、海力士、华邦、美光等各类内存颗粒
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: SM2256K主控转BGA316合金翻盖一拖二测试治具

BGA316/TSOP48一拖二测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本，翻盖操作取换芯片简单，探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进...
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: BGA272翻盖探针安国主控U盘测试夹具

BGA272翻盖探针测试座安国主控U盘测试夹具Flash测试座接受定制
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: QFP100 IC测试治具POGOPIN接触式翻盖结构

应用集成：QFP100芯片;
结构：翻盖式接触式：
POGOPIN定制：是的;
manual或手动和自动作为一个整体，定位精确，操作方便，使用进口探针;
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: eMMC153/169 U盘探针测试夹具

eMMC U盘探针测试夹具
eMMC153/169测试座
eMMC socket编程烧录座
探针材料，可更换维修，限位框可更换适用不同尺寸的IC
常见IC尺寸有：11.5*13,12*16,12*18,14*18 <...
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: SM2246EN主控转bga272一拖二SSD测试夹具（256x16MB）

BGA272翻盖探针一拖二测试座测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本解决方案，翻盖操作取换芯片简单，大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进口铍...
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: SSD主控测试夹具 JM608主控测试

2246EN 2256K主控测试治具
SSD主控测试夹具 JM608主控测试
SSD主控测试治具
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: SSD内存DDR3测试夹具

SSD内存测试夹具 DDR3测试治具 DDR3 socket 翻盖探针socket
翻盖探针设计，小巧，方便快捷
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: BGA100翻盖弹片转DIP48测试座 flash芯片测试座

深圳鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN/QFP、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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: SM2258H转BGA152/132一拖四双面弹测试夹具

SSD闪存测试夹具，SM2258H主控，BGA152/132一拖四测试治具。一块测试板+四个BGA152测试座。（测试板已焊接好端子板测试座可随意插拔互换）
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: BGA316翻盖探针U盘测试夹具

工厂直销欢迎批发质优价廉！翻盖探针测试座， BGA316翻盖探针测试夹具，大量现货当天发！【翻盖探针/转USB接口】
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: SM2246主控SSD一拖四NAND Flash万能测试板

现在SSD固态硬盘与U盘3.0市场BGA132/152的芯片使用量越来越大，固态硬盘的容量与速度越来越大，8CE的FLASH也在各大厂家使用越来越多了，我公司为了方便各大测试厂测试生产的便利，开发了一款多功能固态硬盘测试板。
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: 慧荣SM2256K主控转BGA316一拖二SSD闪存测试治具

该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进口铍铜镀金有良好的伸缩性能，特殊的月牙形针头，更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点：我们的测试座有球无球残球均可测试！而其他品牌只能测试新的有球的芯片。
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: 慧荣SM2256K主探转BGA152一拖四SSD闪存测试治具

SSD闪存测试夹具，SM2256K主控，BGA152/132一拖四测试治具。一块测试板+四个BGA152测试座。（测试板已焊接好端子板测试座可随意插拔互换）
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: SMI2246EN主探转BGA152/132一拖二SSD FLASH测试治具

产品特点：可以测试各类封装的FLASH BGA100 /132/152 /TSOP48/LGA等转DIP48的测试座都可以随意更换
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