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: BGA144pin-1.27mm-16X16mm-5.01mm合金旋钮翻盖探针电源芯片测试座

电源芯片BGA144pin测试夹具规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚：1.27mm
适配芯片尺寸：16*16mm
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: BGA100pin-0.65mm-8×8mm合金旋钮探针芯片测试座

BGA100pin芯片测试夹具规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：8*8mm
更多 +

: 射频模块77pin-1.5mm-45x50mm合金翻盖测试座

射频模块77pin测试座规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
射频模块引脚：77pin
射频模块引脚间距：1.5mm
射频模块尺寸：45*50mm
更多 +

: BGA77pin-1.27mm-9X15mm合金翻盖探针测试座

BGA77pin电源芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
芯片封装形式：BGA
电源芯片引脚77pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：9*15mm
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: 模块48PIN-1.27mm-21X16X2.5mm合金翻盖探针测试座

模块48pin测试座规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
模块引脚：48pin
模块引脚间距：1.27mm
适配模块尺寸：21*16mm
模块厚度：2.5mm
更多 +

: 邮票孔模块24PIN-1.1mm-12.2x16.0mm合金翻盖探针测试座

邮票孔模块24pin测试座规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
模块引脚：24pin
模块引脚间距：1.1mm
模块尺寸：12.2*16mm
更多 +

: PCB集成模块54PIN-1.1pin-22x17mm合金翻盖探针测试座

PCB集成模块54pin测试座规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
模块引脚：54pin
模块引脚间距：1.1mm
模块尺寸：22*17mm
厚度：2.4mm
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: 邮票孔模块18pin-1.1mm-10.19.7mm翻盖探针测试座

邮票孔模块测试座规格参数：
品牌：HMILU
邮票孔模块引脚：18pin
邮票孔模块引脚间距：1.1mm
邮票孔模块尺寸：10.1*9.7mm
更多 +

: SOP24pin-0.64mm-3.9x6.0mm合金翻盖探针芯片测试座

SOP24pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：SOP
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.64mm
适配芯片尺寸：3.9*6.0mm
更多 +

: QFP52pin-0.65mm-10x10mm合金旋钮翻盖探针芯片测试座

QFP52pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFP
芯片引脚：52pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：10*10mm
更多 +

: 光耦芯片14pin-1.27mm-22x2mm合金旋钮翻盖测试座

光耦14pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片引脚：14pin
引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：22*27mm
芯片厚度：5mm
更多 +

: LGA30pin-0.5mm-5x6mm塑胶翻盖芯片测试座

LGA30pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：30pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：5*6mm
更多 +

: BGA216pin-0.8mm-16x16mm合金旋钮翻盖芯片测试座

BGA216pin芯片测试治具规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：216pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：16*16mm
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: LCC20pin-2.54mm-21.7x21.7mm合金翻盖芯片探针测试座

LCC20pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：2.54mm
适配芯片尺寸：21.7*21.7mm
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: 蝶形管壳封装46pin-1.1mm-25x24合金翻盖芯片测试治具

蝶形管壳封装48pin芯片测试夹具规格参数：
品牌：HMILU
封装形式；蝶形管壳
芯片引脚：46pin
芯片引脚间距：1.1mm
适配芯片尺寸：25*24mm
更多 +

: SOP20pin-0.5mm-5.1x4.9-014-KNH芯片老化测试夹具

SOP20pin芯片老化测试夹具规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：SOP
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：（5.1*4.9mm）/（6.4*4.4mm）/（4.9*7.1mm）
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: QFN24pin-0.5mm-4x4mm翻盖旋钮芯片探针老化测试座

QFN24pin芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4*4mm
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: 模块21pin-0.63mm-13.5x5mm合金旋钮翻盖测试座

模块21pin测试座规格参数信息：
品牌：HMILU
引脚：21pin
模块引脚间距：0.63mm
适配模块尺寸：13.5*5mm
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: BGA25pin-1.27mm-6.25x6.25mm塑胶翻盖电源芯片老化测试座

BGA25pin电源芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：25pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：6.25*6.25mm
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: QFN40pin-0.4mm-6x4mm塑胶翻盖芯片测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：6*4mm
更多 +

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