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QFN48-0.35(5x5)烧录座 读写 夹具
测试座
老化 老炼治具 socket
材料&特性:
socket本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:2A
使用温度:-55℃~155℃@3000小...
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MCU 测试socket QFN64烧录座 读写夹具
测试座
老化座老炼夹具9*9
材料&特性:
socket本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:1A
使用温度:-40℃~135℃@1000小...
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定制22pin-1.27(本体30x30mm,含引脚30x42mm)碟形管壳模块
测试座
测试夹具治具socket
产品简介:蝶形金属管壳封装器件测试老化座
器件规格:22pin高速蝶形模块, 间距1.27mm ,本体尺寸30*30mm
电气性能要求:老化温度150℃@3000小时。
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定制 QFN64 射频芯片
测试座
加接地铜块散热 测试夹具 老化座 socket
性能参数:
工作频率:8GHZ@1DB;
工作温度:-55℃~155℃;
单PIN电流:1A;
功率:3W;
接触阻抗:≤100mΩ
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BGA\FBGA\PGA 测试架 544ball 测试治具 夹具 翻盖旋钮探针
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试BGA544封装的CPU。
测试架类型:翻盖旋钮式
接触方式:双头测试探针
工作频率:1.2Ghz
特点:
1:采用翻盖式旋钮结构,压力均匀,不移...
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定制 QFN40 MCU 测试架 测试治具 测试夹具 测试工装 socket 探针
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试MCU芯片QFN40封装的IC是否正常。
特点:
①
测试座
设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②
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定制QFN64翻盖探针测试治具测试架
测试座
socket
产品简介:
设计方式:利用客户测试主板上面原有的孔位设计限位及固定、空间占比低,更换简单易维修。
性能参数:频率2.5Gbps
提供三个月免费保修(人为损坏除外)。
保修期外,免费维修,如果...
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定制 邮票孔WiFi模块
测试座
烧录座 48PIN PCB模块测试 夹具 socket
测试座
(夹具)特点:
①
测试座
设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②
测试座
外壳采用阳极硬氧铝合金材质...
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定制QFN40-0.35自动化open top socket 烧录座 夹具 读写编程
测试座
测试座
(夹具)特性
①结构:下压式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作...
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晶圆级封装 WLCSP115pin封装 芯片烧录座夹具 读写编程座 老化
测试座
socket
测试座
(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作...
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定制 大电流 BTB公座 Connector 弹片微针模组
测试座
产品简介
用途:应用于BTB公座Connector测试,应用于各种3C产品连接器ZIF,BTB连接器公母头等测试项目。
特点:25A大电流设计
材料:镀镍金铍铜、PAI\PEI、铝合金
精度:±0.02mm
机械寿命...
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定制 QFP100 微控制器芯片 测试治具 测试架 测试夹具
测试座
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试QFP100封装的微控制器芯片。
测试架类型:翻盖旋钮式
接触方式:双头测试探针
工作频率:430Mhz
特点:①按芯片管脚精准开槽保证引脚接触稳...
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BGA152/132转DIP48下压弹片高温老化座夹具读写座socket
材料&特性:
socket本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:2A
使用温度:-55℃~155℃@3000小...
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定制BGA132封装SSD颗粒
测试座
老化夹具测试工装烧录读写编程座
测试座
特点
测试座
(夹具)特性
①结构:翻盖旋钮式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质...
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定制 DFN6pin 大电流
测试座
测试 夹具 老化座 pogoPIN
测试座
(夹具)特点:
①
测试座
设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②
测试座
外壳采用阳极硬氧铝合金材质...
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定制 LGA30封装 射频芯片
测试座
测试夹具 10G高频socket
产品简介:
应用:射频频芯片测试
性能要求:频率最高10GHZ,,插损小于1db, 驻波小于-15db, 电流630mA。
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定制 CICS13A 传感器 探针
测试座
socket 夹具 治具 测试工装
测试座
(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作...
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定制LGA28老化夹具
测试座
socket MUC芯片测试
测试座
(夹具)特点:
①
测试座
设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②
测试座
外壳采用阳极硬氧铝合金材质...
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定制BGA616模块
测试座
老化夹具 大功率散热
测试座
产品简介
封装:BGA模块,616pin
pitch:1.6mm
外形尺寸:50*50mm
测试速率:13.5Gbps, 高低温-40℃-125℃
电流:单PIN过流0.5A、
使用寿命:10W+,
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定制LCC40烧录座测试夹具治具测试socket
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
⑦接触电阻:<...
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