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定制SOP8-1.27-11.5×7.5
测试座
SOP8非标宽体
测试座
夹具弹跳座
测试座
(夹具)特点:
①
测试座
根据非标SOP宽体封装设计,能满足多种不同本体宽的芯片需求。
②
测试座
外壳采用阳极硬氧铝合...
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定制SMD-4Pin
测试座
翻盖探针pogoPIN双工位测试夹具测试工装
测试座
(夹具)特点:
①根据客户空间使用要求,设计成双工位的形式,同时测试两颗芯片,提高测试效率。
②
测试座
外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝...
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定制TQFP/LQFP/QFP176pin合金翻盖探针
测试座
测试夹具0.5间距24*24mm
测试座
(夹具)特点:
①
测试座
外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
②
测试座
设计翻盖旋钮结构...
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定制QFP64封装MCU合金翻盖烧录
测试座
测试夹具测试工装
测试座
(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作...
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定制QFN36
测试座
测试夹具工装0.4间距翻盖探针转换座
测试座
(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作...
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定制QFN32顶针烧录座测试夹具合金翻盖探针高低温老化测试治具
测试座
(夹具)特点:
①
测试座
设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②
测试座
外壳采用阳极硬氧铝合金材质...
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(夹具)特点:
①
测试座
设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②
测试座
外壳采用阳极硬氧铝合金材质...
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测试座
(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作...
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定制 QFN20 合金顶窗烧录座 老化测试夹具 适用于自动化设备
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(夹具)特点:
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①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
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