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: 国芯GX3011B测试座BGA144-0.8下压弹片老化座

厂直销，专业为国芯GX3011B这款芯片（BGA144 10*10mm pitch：0.8mm）专门定制的一款可以上自动机台的下压弹片测试座！性能稳定，寿命长，性价比极高！
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: SSOP10-0.65下压弹片芯片老化测试座

ssop10(28)-0.65下压弹片老化座
工厂直销店铺，质优价廉欢迎采购大量现货当天发！
【本款老化座适配芯片规格：SSOP/TSSOP封装、10PIN、引脚间距0.65mm、芯片本体（不含引脚）宽度4.4mm。】
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: 7050-4PIN单面弹晶振老化座

产品数据:
1、材料：PEI
2、适用IC尺寸：1.5x1.5～12x12mm
3、最高频率：>9.3GHZ
4、结构：Open-top/翻盖
5、接触方式：探针
6、工作温度：-55°C～175°C
探针接触细节
产...
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: 5032-4PIN单面弹晶振测试座

产品数据:
1、材料：PEI
2、适用IC尺寸：1.5x1.5～12x12mm
3、最高频率：>9.3GHZ
4、结构：Open-top/翻盖
5、接触方式：探针
6、工作温度：-55°C～175°C
探针接触细节
产...
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: 贴片晶振2016-4PIN晶振双面弹测试座

产品数据: 1、材料：PEI 2、适用IC尺寸：1.5x1.5～12x12mm 3、最高频率：>9.3GHZ 4、结构：Open-top/翻盖 5、接触方式：探针 6、工作温度：-55°C～175°C 探针接触细节产品特点： 1、采用开模Socket+探针...
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: ISSD测试治具

ISSD测试治具 ISSD测试尺寸12*20
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: SMI2246一拖二转BGA152/132双面弹测试治具

产品特点：可以测试各类封装的FLASH BGA100 /132/152 /TSOP48/LGA等的双面弹测试座都可以随意更换
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: BGA63-0.8翻盖弹片芯片测试座

BGA63 0.8间距socket 翻盖弹片测试座装满63针通孔焊接型老化座
工厂直销店铺，质优价廉！欢迎采购！
BGA63翻盖弹片老化座，大量现货当天发！【0.8间距/63满pin/不带板】
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: emcp162/186翻盖金属探针转USB3.0接口芯片测试座

eMCP162探针金属盒转USB3.0母口测试座 eMCP162/186转USB3.0测试座 USB3.0接口，传输速度快，合金外壳，镀金探针，理论测试寿命长达十万次
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: emmc153/169翻盖金属探针转USB3.0接口芯片测试座

eMMC169探针金属盒转USB3.0母口测试座
eMMC153转USB3.0测试座
USB3.0接口，传输速度快，合金外壳，镀金探针，理论测试寿命长达十万次
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: 晶体振荡器插座7050贴片晶振老化测试座7.0 x5.0mm

Open-top结构采用双触点技术，接触更稳定测试座外壳采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长弹片采用进口铍铜材料，阻抗小、弹性好镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度
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: 晶体振荡器插座2.0 x1.6mm贴片晶振老化测试座

Open-top结构采用双触点技术，接触更稳定测试座外壳采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长弹片采用进口铍铜材料，阻抗小、弹性好镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度
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: 排式28XX贴片电容测试老化座

工厂新品直销，品质保证欢迎批发！贴片式电容测试老化座，欢迎有需要的企业或个人咨询洽谈！
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: 5032贴片晶振测试座

Open-top结构采用双触点技术，接触更稳定测试座外壳采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长弹片采用进口铍铜材料，阻抗小、弹性好镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度
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: SM2246EN主控转bga272一拖二SSD测试夹具（256x16MB）

BGA272翻盖探针一拖二测试座测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本解决方案，翻盖操作取换芯片简单，大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的...
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: APtina摄像头模组测试治具

※ 采用手动翻盖式结构，操作方便； ※ 上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,而不会损坏锡球；
※ 高精度的定位...
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QFN12-0.4(5*5)下压弹片IC测试老化座

QFN12-0.4芯片老化座下压qfn12测试座 NP506-012-038-SC-G
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！
下压弹片老化座，QFN12-0.4 HMILU自有品牌，【0.4间距/不带板】
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QFN12-0.4(5*5)翻盖弹片芯片老化测试座

QFN12-0.4翻盖弹片老化座QFN12测试座编程座 IC549-0124-001-G
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！翻盖弹片老化座
QFN12-0.4HMILU自有品牌，大量现货当天发！【0.4间距/不带板】...
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QFN12-0.5(3*3)下压弹片芯片老化测试座

QFN12-0.5芯片老化座下压qfn12测试座 NP506-012-033-C-G
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！下压弹片老化座，QFN12-0.5
HMILU自有品牌，【0.5间距/不带板】
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QFN48-0.5（7*7）翻盖弹片芯片测试座

●产品结构&amp;电气性能稳定，使用操作简便。
●胶体使用PEI&PES耐高低温（-55℃～+170℃）。
●金属导体使用日本NGK铍铜，耐疲劳及高低温（-50℃～+900℃）和优良的导电性。
●此款更多 +

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