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DDR4*8一拖八内存条IC测试治具
公板!现货!一次性可以测8颗DDR4内存颗粒,大大提高生产效率
为方便广大客户测试不同规格的内存IC,发货随治具免费配齐4套限位框:7.5*11mm、9*11mm、9*11.1mm、9*11.5mm
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BGA24-1.0下压弹片芯片测试老化座
产品用途:
测试座
,对BGA24的IC芯片进行测试、数据清空
? 适用封装:BGA24 引脚间距1.0mm
测 试 座:BGA24-1.0老化座
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好...
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BGA221-0.5下压弹片芯片测试老化座
产品用途:
测试座
,对BGA221的IC芯片进行测试、数据读写
适用封装:BGA221 引脚间距0.5mm
测 试 座:BGA221-0.5
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
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BGA107-0.8下压弹片芯片测试老化座
产品用途:
测试座
,对BGA107的IC芯片进行测试、数据读写
适用封装:BGA107 引脚间距0.8mm
测 试 座:BGA107-0.8
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
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BGA48-0.8下压弹片芯片测试老化座
产品用途:IC
测试座
、IC老化座,对BGA67的IC芯片进行测试、数据清空;
适用封装:BGA48 引脚间距0.8mm
测 试 座:BGA48-0.8
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,...
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BGA67-0.8下压弹片芯片测试老化座
产品用途:
测试座
,对BGA67的IC芯片进行测试、数据清空
适用封装:BGA67 引脚间距0.8mm
测 试 座:BGA67-0.8
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
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SSD一拖四慧荣SM2256K主控 转DIP48测试板
此板采用慧荣SM2256K主控,可以兼容BGA152/132/88/100、TSOP48等多种封装闪存芯片转DIP48测试。测试版已焊接好TSOP48端子板,
测试座
可随意插拔互换。
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QFN36-0.5翻盖弹片IC老化
测试座
产品用途: 编程座、
测试座
,对QFN36的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFN36引脚间距0.5mm
测 试 座: QFN36-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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eMCP221合金翻盖探针转SD接口IC
测试座
eMCP221 翻盖合金探针转SD接口
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本款烧录座适配芯片规格:SSOP/TSSOP封装、24PIN、引脚间距0.65mm、芯片本体(不含引脚)宽度5.3-5.7mm
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SSOP24(28)-0.65下压弹片IC烧录座
本款烧录座适配芯片规格:SSOP/TSSOP封装、24PIN、引脚间距0.65mm、芯片本体(不含引脚)宽度4.4mm
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SSOP20(28)-0.65下压弹片IC烧录座
本款烧录座适配SSOP/TSSOP封装、20脚、引脚间距0.65mm、芯片本体(不含引脚)宽度4.4mm的芯片
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SSOP14(28)-0.65下压弹片IC烧录座
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本款烧录座适配SSOP/TSSOP封装、14脚、引脚间距0.65mm、芯片本体(不含引脚)宽度4.4mm的芯片
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SSOP8(28)-0.65下压弹片IC烧录座
本款烧录座适配芯片规格:SSOP/TSSOP封装、8PIN、引脚间距0.65mm、芯片本体(不含引脚)宽度4.4mm
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SOP20(28)-1.27下压弹片IC烧录座
适配烧录SOP封装,20针脚、芯片本体宽度300mil(7.5mm)、1.27mm针脚间距的芯片
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SOP18(28)-1.27下压弹片IC烧录座
本款烧录座适配芯片规格:SOP封装、18PIN、引脚间距1.27mm、芯片本体(不含引脚)宽度7.5mm
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SOP16(28)-1.27下压弹片IC烧录座
适合烧录sop封装、16针脚、本体宽度300mil (7.5mm)、引脚间距1.27mm的芯片
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SOP20(20)-1.27下压弹片IC烧录座
本款烧录座适配芯片规格:SOP封装、20PIN、引脚间距1.27mm、芯片本体(不含引脚)宽度5.4mm
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SOP16(20)-1.27下压弹片IC烧录座
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适配sop封装、16脚、引脚间距1.27mm、芯片本体宽度5.4mm(209mil)的芯片
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